[发明专利]可实现高低温瞬间变化的温度冲击试验箱

说明书

本发明公开了一种可实现高低温瞬间变化的温度冲击试验箱，包括：箱体，所述箱体包括侧箱体及试验箱，所述侧箱体设于所述试验箱一侧壁处，且所述侧箱体与所述试验箱之间设有气流循环通道；温度冲击试验装置，所述温度冲击试验装置包括样品固定装置、高温冲击装置及低温冲击装置，且所述高温冲击装置及低温冲击装置可对放置在所述样品固定装置上的样品进行高温冲击或者低温冲击。本发明是一种极大地缩短测试时间、降低测试能耗的可实现高低温瞬间变化的温度冲击试验箱。

技术领域

本发明涉及高低温冲击试验设备技术领域，尤其涉及一种可实现高低温瞬间变化的温度冲击试验箱。

背景技术

除着电子工业产品对于质量的要求越来越高，这就要求在试验室必须完全真实地模拟产品现实中的使用情况，甚至是在通电情况下进行的试验，比如锂电泄测试，但试验过程中，往往会伴随一定的风险，比如样品由于材料的原因，耐受不了极限的温度，同时样品自身带有一定的发热量，如此综合作用，加速了样品绝缘的老化，可能会因为局部温度过高，而产生燃烧，将试验产品全部报废，甚至将试验箱烧毁，引发火灾。现有的高低温试验箱可以进行湿度的高、低控制，气压的高、低控制，温度的高、低控制，以达到试验环境的模拟。对于湿度的控制，一般会采用加热器、蒸发器以及空气循环装置，将空气内的湿度增加或减少，但是对于某些产品需要做雨水试验，这类试验箱却无法模拟需要的条件。

目前现有技术中的高低温冲击试验箱，普通的高低温试验箱大多都是分为高温产生装置、低温产生装置和测试箱体，分别通过高温产生装置和低温产生装置轮流对放置于测试箱体内部的样品进行轮番的高低温冲击。

现有技术中的高低温冲击试验箱，需要对整个测试箱体的温度进行快速调节，如此调节过程中，温度的变化必须经过一个比较慢的过程，这就会造成测试的时间漫长，而且还由于整个箱体的空间比较大会造成大量的能源的浪费。

因此，亟需一种极大地缩短测试时间、降低测试能耗的可实现高低温瞬间变化的温度冲击试验箱。

发明内容

本发明的目的是提供一种极大地缩短测试时间、降低测试能耗的可实现高低温瞬间变化的温度冲击试验箱。

为了实现上述目的，本发明提供的技术方案为：提供一种可实现高低温瞬间变化的温度冲击试验箱，包括：

箱体，所述箱体包括侧箱体及试验箱，所述侧箱体设于所述试验箱一侧壁处，且所述侧箱体与所述试验箱之间设有气流循环通道；

温度冲击试验装置，所述温度冲击试验装置包括样品固定装置、高温冲击装置及低温冲击装置，且所述高温冲击装置及低温冲击装置可对放置在所述样品固定装置上的样品进行高温冲击或者低温冲击。

所述高温冲击装置及低温冲击装置可对放置在所述样品固定装置上的样品进行轮番地高温冲击或者低温冲击。

所述高温冲击装置为功率大小可调的激光发射装置。

所述低温冲击装置为流量大小可调的氮气发射装置。

所述样品固定装置还连接有驱动装置，所述驱动装置驱动所述样品固定装置转动，所述样品固定装置上布设有呈圆周形排列的凹槽，样品固定在所述凹槽内。

所述激光发射装置及所述氮气发射装置设于所述样品固定装置的上方，且正对所述凹槽，所述激光装置及所述氮气发射装置可分别对放置在所述凹槽内的样品进行激光加热或者氮气制冷。

所述驱动装置包括：依次连接的上位机、PLC控制器、变频器及电机，且所述上位机设有人机操作界面，所述人机操作界面用于输入工作参数，并通过所述上位机转换成控制指令传递给所述PLC控制器，所述PLC控制器通过所述变频器对所述电机的开启、停止和转速进行控制。