[发明专利]激光雷达控制方法及装置、电子设备及存储介质有效

专利信息
申请号: 202011579874.9 申请日: 2020-12-28
公开(公告)号: CN112748417B 公开(公告)日: 2023-06-06
发明(设计)人: 夏冰冰;解华彪;石拓 申请(专利权)人: 北京一径科技有限公司
主分类号: G01S7/48 分类号: G01S7/48
代理公司: 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 代理人: 汪晶晶
地址: 100085 北京市海*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 激光雷达 控制 方法 装置 电子设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种激光雷达控制方法,其特征在于,所述方法包括:

获取当扫描装置在设定扫描帧率下工作时激光雷达在单位时间内能够实现的最大发光点数以及这些发光点与角度参数之间的对应关系;

根据所述激光雷达的目标工作模式、所述设定扫描帧率以及所述最大发光点数,确定所述激光雷达的发射参数,其中在所述目标工作模式下,发光点位置从所述最大发光点数的发光点的位置中选择;以及

控制所述激光雷达以响应于所述发射参数的方式进行发光,从而实现所述激光雷达的目标工作模式,而无需重新标定发光点与角度参数之间的对应关系。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述激光雷达的目标工作模式包括激光雷达的目标帧率;

所述根据所述激光雷达的目标工作模式、所述设定扫描帧率以及所述最大发光点数,确定所述激光雷达的发射参数,包括:

根据所述激光雷达的目标帧率、所述设定扫描帧率以及所述最大发光点数,确定所述激光雷达的发光帧率;所述目标帧率小于或等于所述设定扫描帧率。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述激光雷达的目标工作模式包括激光雷达的目标分辨率;

所述根据所述激光雷达的目标工作模式、所述设定扫描帧率以及所述最大发光点数,确定所述激光雷达的发射参数,包括:

根据所述激光雷达的目标分辨率、所述设定扫描帧率以及所述最大发光点数,确定所述激光雷达的发光帧率和所述发光帧率对应的发光帧中的发光点数量;所述目标分辨率小于或等于所述最大发光点数。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

确定所述发光帧率对应的发光帧中的发光点对应的位置信息。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述激光雷达的目标工作模式包括感兴趣区域扫描;

所述根据所述激光雷达的目标工作模式、所述设定扫描帧率以及所述最大发光点数,确定所述激光雷达的发射参数,包括:

根据所述激光雷达的感兴趣区域、所述设定扫描帧率以及所述最大发光点数,确定所述激光雷达的发光帧率、所述发光帧率对应的发光帧中的发光点数量和位置信息。

6.根据权利要求3至5任一项所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

控制激光雷达在单个发光点处按照预设时间间隔连续发光两次或三次以上。

7.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,通过以下方式确定所述激光雷达的目标工作模式:

接收输入指令,基于所述输入指令获取所述激光雷达的目标工作模式;或

基于测量配置参数,生成所述激光雷达的目标工作模式;或

根据当前的测量结果或测量需求,生成所述激光雷达的目标工作模式。

8.一种激光雷达控制装置,其特征在于,所述装置包括:

获取单元,用于获取当扫描装置在设定扫描帧率下工作时激光雷达在单位时间内能够实现的最大发光点数以及这些发光点与角度参数之间的对应关系;

确定单元,用于根据所述激光雷达的目标工作模式、所述设定扫描帧率以及所述最大发光点数,确定所述激光雷达的发射参数,其中在所述目标工作模式下,发光点位置从所述最大发光点数的发光点的位置中选择;

控制单元,用于控制所述激光雷达以响应于所述发射参数的方式进行发光激光雷达,从而实现所述激光雷达的目标工作模式,而无需重新标定发光点与角度参数之间的对应关系。

9.一种电子设备,其特征在于,所述电子设备包括:处理器和用于存储处理器可执行指令的存储器,其中,所述处理器被配置为在调用存储器中的可执行指令时,能够执行如权利要求1至7任一项所述的激光雷达控制方法的步骤。

10.一种非临时性计算机可读存储介质,当所述存储介质中的指令由电子设备的处理器执行时,使得电子设备能够执行如权利要求1至7任一项所述的激光雷达控制方法的步骤。

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