[发明专利]一种部分极化信号的角度与极化参数欠定联合估计方法在审
申请号: | 202011579986.4 | 申请日: | 2020-12-28 |
公开(公告)号: | CN112731278A | 公开(公告)日: | 2021-04-30 |
发明(设计)人: | 潘玉剑;高晓欣 | 申请(专利权)人: | 杭州电子科技大学 |
主分类号: | G01S3/14 | 分类号: | G01S3/14 |
代理公司: | 杭州君度专利代理事务所(特殊普通合伙) 33240 | 代理人: | 杨舟涛 |
地址: | 310018 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 部分 极化 信号 角度 参数 联合 估计 方法 | ||
1.一种部分极化信号的角度与极化参数欠定联合估计方法,其特征在于:该方法具体包括以下步骤:
步骤一、放置稀疏阵列
在直角坐标系中,将L个阵元沿y轴排列,,每个阵元由x方向极化和y方向极化的交叉极化天线构成,阵元间间距为d的整数倍,将各阵元在y轴上的位置按从小到大的顺序排列,构成列向量γ=[μ1,μ2,...,μL]Td=μd;
步骤二、构建部分极化信号阵列接收模型并采样
当K个远场窄带不相关信号沿y-z平面入射,定义以逆时针方向从y轴正半轴到各信号入射方向的夹角为各信号波达方向θ=[θ1,θ2,...,θK]T,第l个阵元在t时刻的接收信号为:
其中,T表示采样的快拍数,Ck=diag([-1,sinθk])为第k个信号的交叉极化响应矩阵,diag(·)表示以向量元素作为对角线元素构成对角矩阵;al(θk)=exp[j(2πμldcosθk)/λ]表示第k个信号在第l个阵元处的响应,sk(t)=[sk,H(t),sk,V(t)]T是由水平和垂直极化分量组成的第k个部分极化信号,nl(t)=[nl,1(t),nl,2(t)]T表示第l个阵元上的2路零均值高斯白噪声,(·)T表示转置操作;
部分极化信号sk(t)的协方差矩阵为:
其中,I2表示2阶单位矩阵,(·)H表示取共轭转置,(·)*表示取共轭,E(·)表示求期望;rk,HH、rk,VV分别表示第k个信号两个极化分量的功率,rk,HV表示第k个信号两个极化分量的相关系数;其中,αk为极化指向角,-π/2αk≤π/2,βk为极化椭圆率角,-π/4≤βk≤π/4;和分别代表第k个信号的随机极化功率和完全极化功率,该信号的极化度可表示为
阵列在t时刻接收到的信号用矩阵向量形式表示为:
z(t)=As(t)+η(t),t=1,2,...,T
其中,为阵列流型矩阵,a(θk)=[a1(θk),...,aL(θk)]T=[exp[j(2πμldcosθk)λ],...,exp[j(2πμLdcosθk)λ]]T为第k个信号的导向矢量,表示t时刻的信号矢量,其中表示Kronecker积;
步骤三、提取均匀虚拟子阵列的输出
将步骤二采样得到的各阵元交叉极化天线的2路输出分别定义为x方向输出和y方向输出,分离后得到x方向输出向量和y方向输出向量
其中,IL表示L阶单位矩阵;
x方向输出和y方向输出的协方差矩阵分别估计为:
将x方向输出和y方向输出的协方差矩阵相加并向量化得到虚拟阵列的输出:
其中,vec(·)表示将矩阵按列向量化;
令1M表示所有元素都为1的M行列向量,将μv中的元素从小到大排列并删除重复元素,得到一个每个元素只出现一次的整数序列,找出该整数序列中包含0的最长的连续整数段,构成列向量μc,μc的长度L′为为奇数;计算转换矩阵使其满足:
其中,Tp,q表示T的第p行第q列,[·]p表示取向量的第p个元素;δp,q为Kronecker Delta函数,只有当p=q时,δp,q=1,否则δp,q=0;
使用转换矩阵提取虚拟阵列中均匀子阵列的输出:
步骤四、平滑虚拟阵列中均匀子阵列输出
对步骤三提取得到的虚拟阵列中均匀子阵列的输出进行空间平滑,设置每个平滑段的长度为M,第m个平滑段的数据为得到L′-M+1个平滑段,计算平滑后的协方差矩阵:
步骤五、估计波达方向
基于步骤四平滑后的协方差矩阵Ry,利用子空间类方法估计波达方向
步骤六、估计信号极化参数
s6.1、重构部分极化信号sk(t)的协方差矩阵
其中
再根据最小二乘重构各部分极化信号的协方差矩阵:
其中,为求伪逆;
s6.2、对重构后的部分极化信号的协方差矩阵进行特征分解,得到特征值分别为dk,1和dk,2,且dk,1dk,2,对应的特征向量分别为gk,1,gk,2,估计的信号极化度为:
s6.3、求解方程[Q(αk)W(βk)]Hgk,2=0,得到信号的极化指向角αk和极化椭圆率角βk的估计值。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于杭州电子科技大学,未经杭州电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202011579986.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。