[发明专利]一种设备的调试系统

说明书

本申请公开了一种设备的调试系统，包括：具有3段式耳机插座的被调试设备，且被调试设备中的被调试电路与被调试设备的3段式耳机插座连接，以使调试设备进行被调试设备的调试；具有3段式耳机插座的调试设备；连接调试设备和被调试设备的公对公线缆；调试设备的3段式耳机插座至少有一段作为GND线，至少有一段作为SWDIO线，至少有一段作为SWCLK线；被调试设备的3段式耳机插座至少有一段作为GND线，至少有一段作为SWDIO线，至少有一段作为SWCLK线，且被调试设备的3段式耳机插座与调试设备的3段式耳机插座的相同段的电气属性相同。应用本申请的技术方案，适合快速插拔，降低劳动强度，适合批量生产，成本较低。

技术领域

本发明涉及电路技术领域，特别是涉及一种设备的调试系统。

背景技术

近年来，微控制器应用地越来越广泛，特别是在当代的物联网设备中广泛使用。物联网设备标准的调试接口主要有JTAG(Joint Test Action Group，联合测试工作组)接口、SWD(Serial Wire Debug，串行调试)接口、SWIM(Single Wire Interface Module，单线接口模块)接口，在这些调试方式中，SWD和SWIM因其使用的引脚较少、连接容易而受到使用者的欢迎。但是，SWD和SWIM的接口线大多沿用了JTAG的双排2.54mm间距简易牛角插座的形式，或者使用2.54mm间距单排插座/插针的方式，导致存在成本偏高，且插拔费力，占用板面空间较大，固定强度偏低等问题。此外，在设备小批量生产调试时，预留在外壳外面用来临时修改调试程序的调试接口的开口暴露面积过大，不方便提升防护等级。

综上所述，如何更方便地实现设备调试，可以快速插拔、从而降低插拔劳动强度、减少操作时间，是目前本领域技术人员急需解决的技术问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种设备的调试系统，以方便地实现设备调试，可以快速插拔、从而降低插拔劳动强度、减少操作时间。

为解决上述技术问题，本发明提供如下技术方案：

一种设备的调试系统，包括：

具有3段式耳机插座的被调试设备，且所述被调试设备中的被调试电路与所述被调试设备的3段式耳机插座连接，以使调试设备进行所述被调试设备的调试；

具有3段式耳机插座的所述调试设备；

连接所述调试设备和所述被调试设备的公对公线缆；

所述调试设备的3段式耳机插座至少有一段作为GND线，至少有一段作为SWDIO线，至少有一段作为SWCLK线；

所述被调试设备的3段式耳机插座至少有一段作为GND线，至少有一段作为SWDIO线，至少有一段作为SWCLK线，且所述被调试设备的3段式耳机插座与所述调试设备的3段式耳机插座的相同段的电气属性相同。

优选的，所述调试设备的3段式耳机插座的第一段，第二段以及第三段依次作为GND线，SWDIO线以及SWCLK线；

或者，所述调试设备的3段式耳机插座的第一段，第二段以及第三段依次作为GND线，SWCLK线以及SWDIO线；

其中，3段式耳机插座的第一段表示该3段式耳机插座最外侧的一段，3段式耳机插座的第二段表示该3段式耳机插座中间的一段，3段式耳机插座的第三段表示该3段式耳机插座最内侧的一段。

一种设备的调试系统，包括：

具有3段式耳机插座的被调试设备，且所述被调试设备中的被调试电路与所述被调试设备的3段式耳机插座连接，以使调试设备进行所述被调试设备的调试；

具有3段式耳机插座的所述调试设备；

连接所述调试设备和所述被调试设备的公对公线缆；