[发明专利]一种高亮高反零件瑕疵检测方法

权利要求书

1.一种高亮高反零件瑕疵检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤1：准备好投影仪、工业相机和圆弧形半透明板材；将被测零件放置位于所述圆弧形半透明板材的弧心位置，所述工业相机置于所述圆弧形半透明板材的外侧，在所述圆弧形半透明板材的中心开设有圆孔，所述工业相机的镜头透过所述圆孔与所述被测零件相对；

步骤2：控制所述投影仪向所述圆弧形半透明板材上投出条纹图像，以在所述圆弧形半透明板材的表面上显示相应的条纹图像；

步骤3：位于圆弧形半透明板材弧心位置的被测零件会反射圆弧形半透明板材上面显示的条纹图像，所述工业相机采集被测零件反射的图像；

步骤4：继续重复步骤2和步骤3的动作多次；其中，重复的步骤2中，所述投影仪向所述圆弧形半透明板材上投出的条纹图像每次均不同，以得到多组不同的条纹图像在被测零件上面反射的图像；

步骤5：对工业相机采集的所有图像进行合成，并合成具有深度信息的结果图像；

步骤6：对结果图像的灰阶值进行识别，判断结果图像上是否存在有灰阶值不同的地方，并对灰阶值不同的地方进行标识；若结果图像上存在有灰阶值不同的地方，则表示被测零件上存在有缺陷；若结果图像上不存在灰阶值不同的地方，则表示被测零件上没有缺陷。

2.根据权利要求1所述的一种高亮高反零件瑕疵检测方法，其特征在于：在步骤5中，通过电脑中的软件MVTec HALCON，并根据偏折法的原理，计算合成具有深度信息的结果图像。

3.根据权利要求1或2所述的一种高亮高反零件瑕疵检测方法，其特征在于：在步骤6中，通过电脑中的软件MVTec HALCON对结果图像的灰阶值进行识别，采用不同颜色表示出结果图像上灰阶值不同的地方。

4.根据权利要求1所述的一种高亮高反零件瑕疵检测方法，其特征在于：在步骤4中，继续重复步骤2和步骤3的动作15～45次。