[发明专利]一种ICT测试平台的校验方法及系统在审
申请号: | 202011583084.8 | 申请日: | 2020-12-28 |
公开(公告)号: | CN112782634A | 公开(公告)日: | 2021-05-11 |
发明(设计)人: | 陈占旭 | 申请(专利权)人: | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
主分类号: | G01R35/00 | 分类号: | G01R35/00;G01R31/28 |
代理公司: | 北京众达德权知识产权代理有限公司 11570 | 代理人: | 徐彦圣 |
地址: | 215000 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 ict 测试 平台 校验 方法 系统 | ||
1.一种ICT测试平台的校验方法,其特征在于,包括:
提供针点验证板,在所述针点验证板表面形成多个图形;所述多个图形的形状大小及位置与PCB上的多个焊盘的形状大小及位置分别对应;
通过夹具夹持固定所述针点验证板;
将设置有多个探针的测试平台与所述针点验证板对齐,控制所述多个探针抵靠所述针点验证板,在所述针点验证板上形成多个针印,再根据所述多个针印的位置,对所述测试平台上的探针位置进行校验。
其中,所述多个图形包含有多个类别的图形,不同类别图形的大小及颜色不同。
2.根据权利要求1所述的ICT测试平台的校验方法,其特征在于,所述针点验证板的材料为聚丙烯;
所述方法还包括:
在所述针点验证板表面贴上蓝膜。
3.根据权利要求1所述的ICT测试平台的校验方法,其特征在于,所述多个图形的形状均为圆形。
4.根据权利要求1所述的ICT测试平台的校验方法,其特征在于,所述根据所述多个针印的位置,对所述测试平台上的探针位置进行校验,包括:
判断所述多个针印是否都位于所述多个图形内,若否,则确定位于所述多个图形外的针印所对应的探针出现错位。
5.根据权利要求4所述的ICT测试平台的校验方法,其特征在于,还包括:
根据错位探针在所述针点验证板上形成的对应针印与所述图形之间的相对位置,控制所述错位探针进行复位。
6.根据权利要求5所述的ICT测试平台的校验方法,其特征在于,所述根据错位探针在所述针点验证板上形成的对应针印与所述图形之间的相对位置,控制所述错位探针进行复位,包括:
若存在至少两个所述错位探针时,则将距离所述错位探针对应针印最近且内部没有针印的图形作为默认图形,根据所述默认图形与所述错位探针之间的相对位置进行复位。
7.根据权利要求5所述的ICT测试平台的校验方法,其特征在于,还包括:
在所述错位探针复位完成之后,将所述测试平台与所述针点验证板对齐,控制所述多个探针抵靠所述针点验证板,在所述针点验证板上形成多个针印,再根据所述多个针印的位置,判断所述错位探针是否复位成功。
8.一种ICT测试平台的校验系统,其特征在于,包括:
针点验证板,所述针点验证板表面形成有多个图形;所述多个图形的形状大小及位置与PCB上的多个焊盘的形状大小及位置分别对应,且所述多个图形包含有多个类别的图形,不同类别图形的大小及颜色不同;
夹具,用于夹持固定所述针点验证板;
测试平台,所述测试平台上设置有多个探针,所述测试平台与所述针点验证板相对设置,用于控制所述多个探针抵靠所述针点验证板,在所述针点验证板上形成多个针印,再根据所述多个针印的位置,对所述测试平台上的探针位置进行校验。
9.根据权利要求8所述的ICT测试平台的校验系统,其特征在于,所述针点验证板的材料为聚丙烯,且所述针点验证板表面贴有蓝膜。
10.根据权利要求8所述的ICT测试平台的校验系统,其特征在于,所述测试平台,还用于判断所述多个针印是否都位于所述多个图形内,若否,则确定位于所述多个图形外的针印所对应的探针出现错位。
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