[发明专利]显示屏子像素定位及亮度提取方法、设备以及存储介质

说明书

本申请公开一种显示屏子像素定位及亮度提取方法、设备以及存储介质，方法包括：对拍摄好的显示屏的子像素原图进行图像预处理得到子像素亮度增强图；将子像素亮度增强图进行二值化处理得到二值化图；基于子像素亮度增强图和二值化图得到位于子像素原图中心附近的第一像素团的位置和亮度，并在像素位置图中进行标记；在第一像素团周围搜索第二像素团，基于子像素亮度增强图和二值化图得到第二像素团的位置和亮度，并在像素位置图中进行标记；基于第一像素团和第二像素团搜索同行以及相邻行的像素团位置和亮度，直到在像素位置图中得到所有像素团的位置和亮度。本申请旨在解决现有的定位图定位法中的子像素定位准确性较低和算法复杂度高的问题。

技术领域

本发明涉及显示屏技术领域，尤其涉及一种显示屏子像素定位及亮度提取方法、设备以及存储介质。

背景技术

随着信息显示技术的不断发展，OLED屏幕凭借其自发光、可弯曲、视角广泛、响应速度快、制程简单等优势，正逐步取代传统的LCD，快速深入的应用到现代社会的各个领域。

在OLED显示屏的光学AOI检测(Automated Optical Inspection缩写，译为自动光学检测)及光学Mura(云纹现象，即显示屏上细微亮度或颜色差异。)补偿环节，通常使用高分辨率的相机对显示屏进行点灯拍图。图像上每一个亮团和显示屏上一个子像素相对应，因此，在图像上准确的获取每颗子像素的图像位置，并和显示屏的实际物理位置一一准确对应是正确进行AOI亮暗点检测的基础，也是光学DeMura中能够正确获取每颗子子像素亮度值的前提。

现有的子像素位置定位方法主要有定位图定位法，如果定位图的像素定位出现异常，整个屏体上的子像素定位都会出现偏差，给后期的出来带来大的系统误差。并且点定位图本身需要增加显示画面，每个颜色的画面因为排列可能不同，都需要做定位图，因此需要至少增加3个显示画面，增加了后续DeMura及AOI系统点屏时序控制的复杂度。

上述内容仅用于辅助理解本申请的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。

发明内容

本申请实施例通过提供一种显示屏子像素定位及亮度提取方法、设备以及存储介质，本申请旨在解决现有的定位图定位法中的子像素定位准确性较低和算法复杂度高的问题。

本申请实施例提供了一种显示屏子像素定位及亮度提取方法，包括：

对拍摄好的显示屏的子像素原图进行图像预处理得到子像素亮度增强图；

将所述子像素亮度增强图进行二值化处理得到二值化图；

基于所述子像素亮度增强图和所述二值化图得到位于子像素原图中心附近的第一像素团的位置和亮度，并在像素位置图中进行标记；

在所述第一像素团周围搜索第二像素团，基于所述子像素亮度增强图和所述二值化图得到第二像素团的位置和亮度，并在像素位置图中进行标记；

基于所述第一像素团和所述第二像素团搜索同行以及相邻行的像素团位置和亮度，直到在像素位置图中得到所有像素团的位置和亮度。

在一些实施例中，所述对拍摄好的显示屏的子像素原图进行图像预处理得到子像素亮度增强图包括：

对拍摄好的显示屏的子像素原图进行均值滤波得到均值滤波图像；

基于所述子像素原图和所述均值滤波图像得到所述子像素亮度增强图。

在一些实施例中，所述基于所述子像素原图和所述均值滤波图像得到所述子像素亮度增强图包括：

所述子像素原图除以均值滤波图像再乘以预设灰阶倍数，得到所述子像素亮度增强图。

在一些实施例中，所述将所述子像素亮度增强图进行二值化处理得到二值化图包括：