[发明专利]一种温敏材料连续标定方法、系统及存储介质

权利要求书

1.一种温敏材料连续标定方法，其特征在于，所述标定方法包括：

使温敏材料表面温度发生连续升高或降低；

在温度升高或降低过程中，记录全程的温度-时间曲线T＝f₁(τ)，同时记录全程温敏材料表面的光强场随时间变化的图像；

对所述图像采用光强提取方法得到全程指定区域或像素的平均光强-时间曲线I＝f₂(τ)；

将得到的温度-时间曲线T＝f₁(τ)和平均光强-时间曲线同步，去掉中间量后得到初步的温度-平均光强曲线T＝F(I)；

将得到的温度-光强曲线T＝F(I)进行数据筛选后经过曲线拟合得到指定区域或像素连续的温度－光强标定曲线；

将得到的温度-时间曲线T＝f₁(τ)和平均光强-时间曲线同步包括：

根据温度变化的起点、终点及光强变化的起点、终点这四个关键点进行时间同步；

采用光强提取方法得到全程指定区域或像素的平均光强-时间曲线I＝f₂(τ)包括：

从图像中提取出温度变化过程中温敏材料表面指定区域或像素的平均光强随时间的变化曲线，该曲线的数据量等同于图像帧数N，或为采样帧数的N/m+1，m为间隔帧数。

2.如权利要求1中所述的标定方法，其特征在于，将得到的温度-光强曲线进行数据筛选包括：去除坏点，具体包括以下步骤：

通过曲线拟合方法得到拟合的温度－光强曲线；

计算任一点测量值和拟合曲线值的光强偏差；

如果光强偏差不在接受范围内，则认为是坏点，去除；反之则不去除；

逐点计算，去除所有坏点后，再次拟合即得到最终的温度－光强曲线。

3.一种温敏材料连续标定系统，其特征在于，所述标定系统包括：

均温加热装置，所述均温加热装置采用PID控制，并能够调节加热速率，所述均温加热装置用于使温敏材料表面温度发生连续升高或降低；

温度测量装置，所述温度测量装置用于在温度升高或降低的过程中记录全程的温度-时间曲线T＝f₁(τ)，同时记录全程温敏材料表面的光强场随时间变化的图像；

数据记录仪，用于记录温敏材料表面温度-时间曲线T＝f₁(τ)；

相机，用于记录全程温敏材料表面的光强场随时间变化的图像；

数据处理模块，用于对所述图像采用光强提取方法得到全程指定区域或像素的平均光强-时间曲线I＝f₂(τ)；将得到的温度-时间曲线T＝f₁(τ)和平均光强-时间曲线同步，去掉中间量后得到初步的温度-平均光强曲线T＝F(I)；将得到的温度-光强曲线T＝F(I)进行数据筛选后经过曲线拟合得到指定区域或像素连续的温度－光强标定曲线；

所述数据处理模块还用于根据温度变化的起点、终点及光强变化的起点、终点这四个关键点进行时间同步；

所述数据处理模块还用于从图像中提取出温度变化过程中温敏材料表面指定区域或像素的平均光强随时间的变化曲线，该曲线的数据量等同于图像帧数N，或为采样帧数的N/m+1，m为间隔帧数。

4.根据权利要求3所述的标定系统，其特征在于，所述温度测量装置包括：热电阻、热电偶。

5.一种电子设备，包括：

处理器；

用于存储处理器可执行指令的存储器；

其中，所述处理器通过运行所述可执行指令以实现如权利要求1或2所述的方法。

6.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机指令，该指令被处理器执行时实现如权利要求1或2所述方法的步骤。