[发明专利]一种光热面料综合性能的测量装置和方法

权利要求书

1.一种光热面料综合性能的测量装置，其特征在于，包括温度监控器、光源发射器、试样台和光强度测试仪，所述温度监控器为红外照相机，其监控记录置于所述试样台上的待测样品不同光照时间下的温度。

2.根据权利要求1所述的光热面料综合性能的测量装置，其特征在于，所述光源发射器位于所述试样台的正上方，所述光源发射器为氙灯。

3.根据权利要求1或2所述的光热面料综合性能的测量装置，其特征在于，所述试样台可通过升降机构调节高度。

4.根据权利要求3所述的光热面料综合性能的测量装置，其特征在于，所述试样台为隔热材料。

5.根据权利要求1～4任一项所述的光热面料综合性能的测量装置，其特征在于，所述光强度测试仪的测试位点位于所述试样台上，靠近待测样品的中心位置。

6.一种光热面料综合性能的测量方法，其特征在于，包括：获得待测样品在同一光照强度、不同光照时间下的温度后，使用公式进行拟合，从而计算获得待测样品的热交换系数F和光热转换系数γ；

其中，T为待测样品光照后温度，T₀为环境温度，P为光照辐射功率，t为光照时间，m为待测样品质量，C_P为待测样品比热容。

7.根据权利要求6所述的光热面料综合性能的测量方法，其特征在于，采用红外照相机获得所述待测样品在同一光照强度、不同光照时间下的温度。

8.根据权利要求7所述的光热面料综合性能的测量方法，其特征在于，所述红外照相机处于光源照射区域之外，且满足待测样品的成像位于相机屏幕中央。

9.根据权利要求6所述的光热面料综合性能的测量方法，其特征在于，所述光照强度的大小等于测试地年均太阳辐射强度。

10.根据权利要求6～9任一项所述的光热面料综合性能的测量方法，其特征在于，所述光热转换系数γ越大，则光热面料升高至目标温度的用时越少，光热转换性能越好。