[发明专利]引脚等效电阻检测电路、检测方法及芯片

说明书

本发明提供了一种用于芯片测试的引脚等效电阻检测电路和检测方法及芯片，通过将预知的输入待测引脚的检测电压分为两路，一路经基准电压电路输出基准电压，另一路作为电压检测电路中放大器的电源端，比较两路电压大小，从而能够确定芯片引脚与测试插座的接触电阻是否发生变化，不影响芯片测试的测试结果。

技术领域

本发明涉及芯片检测，具体涉及一种引脚等效电阻检测电路和检测方法及芯片。

背景技术

随着电子技术的发展，电子产品的集成化程度越来越高，结构越来越精细，工序越来越多，制造工艺越来越复杂，这样在制造过程中产生的缺陷可能也会随之放大。对于一个合格的电子产品，不但要求有较高的性能指标，而且还要有较高的稳定性，电子产品的稳定性取决于设计的合理性、元器件性能以及整机制造工艺等因素。

芯片，也就是集成电路，在出厂时通常需要经过一系列的功能性测试，其中的FT(Final Test，最终测试)便包括了DC(Direct Current，直流)测试，DC测试是基于欧姆定律来确定器件电参数的稳态测试。DC测试包括多项测试，其中之一为漏电流测试，具体为待测引脚输入测试电压，使得待测引脚与接地引脚或电源引脚之间有电流流过，通过测试该电流大小来确定引脚间的电压差，进而确定该待测引脚在漏电流测试中是否合格。

同类型的大量芯片通常在同一块测试板上进行测试，测试板上的测试插座在大量芯片的测试过程中不可避免的多次进行焊接或拔插，进而导致测试插座与引脚的接触电阻发生变化，这种变化将对测试结果及其他测试流程产生不利影响，使其测试出与实际值不符的测量值，导致芯片的质量被错误判断，影响产品评估。

通过测量引脚电流大小，结合测试电压可得知芯片内部和接触电阻的总电阻大小，然而，不同引脚之间，芯片内部的等效电阻不同，且芯片内部电路复杂，其等效电阻计算繁复，对于高度集成的复杂电路，其等效电阻的计算近乎不可实现，因此，通过测量引脚电流的方法不实用。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了一种用于芯片测试的引脚等效电阻检测电路和检测方法及芯片，通过该检测电路和检测方法及芯片能够确定芯片引脚与测试插座的接触电阻是否发生变化，从而不影响芯片测试的测试结果。

第一方面，本发明提供了一种引脚等效电阻检测电路，所述检测电路包括：

基准电压电路，所述基准电压电路输入端与至少一个芯片引脚连接，用于根据待测引脚输入的检测电压输出基准电压；和

电压检测电路，所述电压检测电路包括第一输入端和第二输入端，所述第一输入端与所述基准电压电路输出端连接，所述第二输入端与至少一个芯片引脚连接，用于根据所述基准电压和所述检测电压进行比较。

具体的，所述基准电压小于所述检测电压。

具体的，所述电压检测电路包括放大器，所述放大器的输入端作为所述第一输入端，电源端作为所述第二输入端，用于根据所述检测电压对所述基准电压进行电压值读取。

具体的，所述电压检测电路包括：

分压电路，包括相互串联的第一分压电阻和第二分压电阻，所述分压电路的输入端作为所述第二输入端，输出端处于所述第一分压电阻和所述第二分压电阻之间，用于对所述检测电压进行分压；

比较器，其反相输入端与所述分压电路输出端连接，同相输入端作为所述第一输入端，与所述基准电压电路输出端连接，用于根据所述分压电路的输出与所述基准电压进行比较。

具体的，所述基准电压电路包括第一电阻、第二电阻、第一电流源和第二电流源，其中，

所述第一电流源输入端与至少一个芯片引脚连接，输出端和所述第一电阻输入端连接；

所述第一电阻输出端与所述第二电流源输入端连接；