[发明专利]电子元器件外壳缺陷检测方法及系统在审
申请号: | 202011594022.7 | 申请日: | 2020-12-29 |
公开(公告)号: | CN112730440A | 公开(公告)日: | 2021-04-30 |
发明(设计)人: | 吕宏峰;王小强;罗军;刘磊 | 申请(专利权)人: | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 郭凤杰 |
地址: | 511300 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电子元器件 外壳 缺陷 检测 方法 系统 | ||
1.一种电子元器件外壳缺陷检测方法,其特征在于,包括:
将待测电子元器件移动至检测区域,获取所述电子元器件的第一表面图像信息;
使所述电子元器件旋转预设角度,获取所述电子元器件的第二表面图像信息;
根据所述第一表面图像信息和所述第二表面图像信息判断所述电子元器件是否存在表面缺陷。
2.根据权利要求1所述的电子元器件外壳缺陷检测方法,其特征在于,所述根据所述第一表面图像信息和所述第二表面图像信息判断所述电子元器件是否存在表面缺陷,包括:
对所述第一表面图像信息和所述第二表面图像信息进行图像处理;
根据所述图像处理的结果,结合图形数据库对所述电子元器件的外壳形貌进行分类识别,以判断所述电子元器件是否存在表面缺陷。
3.根据权利要求2所述的电子元器件外壳缺陷检测方法,其特征在于,所述外壳形貌的分类类别包括多种表面缺陷类型。
4.根据权利要求2所述的电子元器件外壳缺陷检测方法,其特征在于,在所述根据所述图像处理的结果,结合图形数据库对所述电子元器件的外壳形貌进行分类识别后,所述方法还包括:
根据所述外壳形貌的类别,将所述第一表面图像信息和所述第二表面图像存储至相应的图像数据库。
5.根据权利要求1或2所述的电子元器件外壳缺陷检测方法,其特征在于,在根据所述第一表面图像信息和所述第二表面图像信息判断所述电子元器件是否存在表面缺陷后,所述方法还包括:
若所述电子元器件存在表面缺陷,则将所述电子元器件移动至第一样品区域;
若所述电子元器件不存在表面缺陷,则将所述电子元器件移动至第二样品区域。
6.根据权利要求2所述的电子元器件外壳缺陷检测方法,其特征在于,使用图像拼接算法和快速图像滤波算法对所述第一表面图像信息和所述第二表面图像信息进行图像处理,使用神经网络识别算法和GAN分类算法结合图形数据库对所述电子元器件的外壳缺陷进行分类识别。
7.根据权利要求1所述的电子元器件外壳缺陷检测方法,其特征在于,在完成对所述电子元器件的外壳缺陷检测后,发出提示信息对检测结果进行提示。
8.一种电子元器件外壳缺陷检测系统,其特征在于,包括:
移动装置,用于将待测电子元器件移动至检测区域,使所述电子元器件旋转预设角度;
视觉检测装置,用于获取所述电子元器件的第一表面图像信息,并在所述电子元器件旋转预设角度后,获取所述电子元器件的第二表面图像信息;
分析装置,分别与所述移动装置和所述视觉检测装置相连接,用于根据所述第一表面图像信息和所述第二表面图像信息判断所述电子元器件是否存在表面缺陷;所述分析装置还用于输出控制指令,所述移动装置根据所述控制指令进行移动。
9.根据权利要求8所述的电子元器件外壳缺陷检测系统,其特征在于,所述视觉检测装置包括:
照明装置,用于提供稳定光照;
工业相机,用于经设定光路获取所述电子元器件的表面图像信息;所述照明装置发出的光照入射到所述电子元器件的表面,经反射被所述工业相机收集并成像,形成所述电子元器件的表面图像信息。
10.根据权利要求8所述的电子元器件外壳缺陷检测系统,其特征在于,所述电子元器件外壳缺陷检测系统还包括:
提示装置,与所述分析装置相连接,用于在完成对所述电子元器件的外壳缺陷检测后,发出提示信息对检测结果进行提示。
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