[发明专利]一种取代Map传感器的液晶面板检测控制方法有效

专利信息
申请号: 202011594205.9 申请日: 2020-12-29
公开(公告)号: CN112660828B 公开(公告)日: 2022-03-08
发明(设计)人: 徐青;朱振华 申请(专利权)人: 飞马智科信息技术股份有限公司
主分类号: B65G49/06 分类号: B65G49/06;B65G43/08
代理公司: 安徽知问律师事务所 34134 代理人: 平静
地址: 243000 安徽省*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 取代 map 传感器 液晶面板 检测 控制 方法
【权利要求书】:

1.一种液晶面板检测控制方法,其特征在于,其步骤为:

S10、框架在工作位就位后,面板在框架的状态初始化为满载、过程计算机下载面板生产信息数据;

S11、对工作位的框架取放面板,放片slot定义来自给机械手的直接slot信息,取片slot定义为机械手逐层上报当前slot信息,直到取到片结束,同时返回初始指定的slot信息;

S12、PLC控制系统根据机械手的反馈信息,在放片时置位slot状态,取片时复位已经处理过的slot状态并清除信息数据,取到时将信息数据传递到机械手手臂上。

2.根据权利要求1所述的一种液晶面板检测控制方法,其特征在于:对于取片,从指定的slot开始,机械手取片,如果未取到,则自动上移,取下一个slot,直到取到面板结束,在取片过程中,返回当前经过的slot数值,取到片时,返回当前的slot值。

3.根据权利要求2所述的一种液晶面板检测控制方法,其特征在于:在取片过程中,把未取到的slot状态复位,同时清除该slot中的液晶面板承载信息并上报给过程计算机,当取到实际的面板时,读取该面板信息传输给机械手,向机械手下一步的目标设备单元传递该信息。

4.根据权利要求3所述的一种液晶面板检测控制方法,其特征在于:对于放片,按照指定的slot结果,对该Slot状态置位,上报过程计算机数据为当前的slot指定结果。

5.根据权利要求4所述的一种液晶面板检测控制方法,其特征在于:框架在工作位上固定进入允许工作状态,过程计算机根据当前卡夹面板信息及MES计划下达生产计划信息到每块液晶面板上。

6.根据权利要求5所述的一种液晶面板检测控制方法,其特征在于:利用液晶面板检测控制系统进行控制,该系统包括框架(1)、固定座(3)、底座(4)和夹片(6),所述的固定座(3)设置于底座(4)上,框架(1)通过该固定座(3)实现固定,框架(1)内有横向设置的多个夹片(6),液晶面板置于相邻两夹片(6)之间;还包括光电检测传感器,该光电检测传感器设置于底座(4)上,位于框架(1)下方。

7.根据权利要求6所述的一种液晶面板检测控制方法,其特征在于:还包括PLC控制系统和机械手,光电检测传感器传输信号给PLC控制系统,PLC控制系统控制机械手动作。

8.根据权利要求7所述的一种液晶面板检测控制方法,其特征在于:还包括离子发生器(2),所述离子发生器(2)设置于框架(1)两侧。

9.根据权利要求8所述的一种液晶面板检测控制方法,其特征在于:还包括过程计算机,所述过程计算机下载面板生产信息数据,并接收机械手上报的slot信息。

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