[发明专利]一种四线制测量多通道导通电阻和绝缘电阻的装置在审
申请号: | 202011595141.4 | 申请日: | 2020-12-29 |
公开(公告)号: | CN112816782A | 公开(公告)日: | 2021-05-18 |
发明(设计)人: | 郑凤武;龚成;刘洁;陈阳;李华文 | 申请(专利权)人: | 中国船舶重工集团有限公司第七一0研究所 |
主分类号: | G01R27/08 | 分类号: | G01R27/08;G01R27/02 |
代理公司: | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人: | 高会允 |
地址: | 443003 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 四线制 测量 通道 通电 绝缘 电阻 装置 | ||
1.一种四线制测量多通道导通电阻和绝缘电阻的装置,其特征在于,包括测控计算机、数据卡、综合控制电路、第一开关卡、第二开关卡以及被测线路;
所述第一开关卡和第二开关卡结构一致,前端包括两个测试公共端口,后端包括n对测试总线端口对,开关卡内测试公共端口和测试总线端口对选通连接;所述测试公共端口连接至所述综合控制电路;测
试公共端口包括测试正端和测试负端,其中测试正端用于测试信号的输入,测试负端用于测试信号的输出;一对测试总线端口对对应一个通道,n为通道总数;
所述被测电路一端连接第一开关卡上的一对测试总线端口对,另一端连接第二开关卡上的一对测试总线端口对;
所述综合控制电路一方面用于调整测试正端的测试控制信号的输入,另一方面还用于获取测试负端的测试信号的输出;
所述数据卡为AD采样卡用于对所述综合控制端获取的测试信号进行AD采样并输出;
所述测控计算机用于控制所述综合控制电路和所述数据卡。
2.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述综合控制电路包括250V电源,恒流源、衰减器、差分放大器、信号隔离器、第一切换开关和第二切换开关以及电阻;
所述第一切换开关为单刀双掷开关,包括一个动端和两个不动端,第一切换开关的动端连接第一开关卡的测试正端COM1+;第一切换开关的其中一个不动端通过第一电阻连接250电源,第一切换开关的另一个不动端通过第二电阻连接恒流源;
所述第二切换开关为单刀双掷开关,包括一个动端和两个不动端,第二切换开关的动端连接第二开关卡的测试正端COM2+;第二切换开关的两个不动端分别经第三电阻和第四电阻接地;
所述250V电源连接所述衰减器;所述衰减器引出第一测试信号采样端;
所述第一开关卡的测试负端COM1-和所述第二开关卡的测试负端COM2-均连接所述信号隔离器的输入端;
所述信号隔离器的输出端连接所述差分放大器;所述差分放大器的输出端引出第二测试信号采样端;
所述第二切换开关中连接第三电阻的不动端引出第三测试信号采样端,所述第二切换开关中连接第四电阻的不动端引出第四测试信号采样端;
第一~第四测试信号采样端均连接至所述AD采样卡。
3.如权利要求2所述的装置,其特征在于,所述第一电阻为1MΩ,所述第二电阻为50Ω,所述第三电阻为50Ω,所述第四电阻为10kΩ。
4.如权利要求3所述的装置,其特征在于,所述测控计算机控制所述第一切换开关切换连接至第二电阻,所述第二切换开关切换连接至所述第三电阻;得到被测线路的导通电阻检测电路;
导通电阻检测电路的激励电流回路:恒流源→第二电阻→第一切换开关→第一开关卡的测试正端COM1+→第一开关卡所选通道的测试总线端口对→被测线路→第二开关卡所选通道的测试总线端口对→第二开关卡的测试正端COM2+→第二切换开关→第三电阻→电源地;
所述第三测试信号采样端输出被测线路的检测电流,由所述AD采样卡采集获得并送入测控计算机;
第一开关卡的的测试负端COM1-和所述第二开关卡的测试负端COM2-输出反馈电压,经由差分放大器进行差分处理后得到被测线路的检测电压,经第二测试信号采样端输出,由所述AD采样卡采集获得并送入测控计算机;
测控计算机根据被测线路的检测电压和检测电流计算得到被测线路的导通电阻测试值。
5.如权利要求3所述的装置,其特征在于,所述测控计算机控制所述第一切换开关切换连接至第一电阻,所述第二切换开关切换连接至所述第四电阻;
此时得到绝缘电阻测试回路:250V电源→第一电阻→第一切换开关→第一开关卡测试正端→第一开关卡所选择通道对应的测试总线端口对的正端→被测线路→第二开关卡所选择通道对应的测试总线端口对的正端→第二开关卡的测试正端→第二切换开关→第四电阻→电源地;
此时所述第四测试信号采样端处得到被测线路的检测电流;根据250V电源、第一电阻和第四电阻的阻值得到绝缘电阻的测试值。
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