[发明专利]一种加长杆高真空半导体X射线探测器在审

专利信息
申请号: 202011595597.0 申请日: 2020-12-29
公开(公告)号: CN112684488A 公开(公告)日: 2021-04-20
发明(设计)人: 王环 申请(专利权)人: 苏州兀象科学仪器有限公司
主分类号: G01T1/24 分类号: G01T1/24
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215300 江苏省苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 加长 真空 半导体 射线 探测器
【权利要求书】:

1.一种加长杆高真空半导体X射线探测器,其特征在于,所述X射线探测器包括:传感器(1),所述传感器(1)固定于探测器头部,所述传感器内集成有用于降温的电制冷片,该传感器将X射线转换成感应电信号,该传感器将电信号输出至电路板,所述电路板固定在延伸杆(2)内部,该电路板为 PCB,所述PCB包括多层走线和覆铜结构,该PCB通过信号传输端子将电信号传输至前置放大电路,所述信号传输端子(8)固定在真空法兰(3)内部,所述前置放大电路固定在前置电路壳体(4)内部,该前置放大电路通过FPC连接至数字多道分析器,所述数字多道分析器固定在数字多道分析器壳体(5)内部。

2.根据权利要求1所述的一种加长杆高真空半导体X射线探测器,其特征在于:所述延伸杆(2)的两端为二次导电加工,该延伸杆(2)的两端均为镜面(6),所述传感器(1)的固定座与所述真空法兰(3)的固定座分别设有与所述镜面(6)相咬合的连接面(7)。

3. 根据权利要求1所述的一种加长杆高真空半导体X射线探测器,其特征在于:所述X射线传感器将信号传输给所述前置放大电路,经前置放大电路放大后,数字多道分析器再将该信号进行放大、滤波,该信号进行ADC,转换后,通过数字脉冲成形,再进行统计分析,形成谱图,所述谱图通过USB或RS232传输接口传递给上位机软件。

4.根据权利要求1所述的一种加长杆高真空半导体X射线探测器,其特征在于:所述电制冷片通过DPA闭环制冷电路对所述传感器温度监控,并对该电制冷片提供电流制冷。

5.根据权利要求1所述的一种加长杆高真空半导体X射线探测器,其特征在于:所述电路板与所述传感器之间以及该电路板与所述真空法兰(3)之间,均用镀金金属插针连接。

6.根据权利要求1所述的一种加长杆高真空半导体X射线探测器,其特征在于:所述电路板还可以设为FPC。

7.根据权利要求1所述的一种加长杆高真空半导体X射线探测器,其特征在于:所述延伸杆(2)长度不小于287mm的铝制金属杆。

8.根据权利要求1所述的一种加长杆高真空半导体X射线探测器,其特征在于:所述延伸杆(2)的侧壁设有通气小孔。

9.根据权利要求1所述的一种加长杆高真空半导体X射线探测器,其特征在于:所述真空法兰(3)为高真空CF接口。

10.根据权利要求1所述的一种加长杆高真空半导体X射线探测器,其特征在于:所述前置放大电路连接有DPA,所述DPA为该前置放大电路提供电源、偏置电压以及进行信号处理。

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