[发明专利]基于红外热像的外墙外保温系统缺陷识别与损伤程度评价方法在审

专利信息
申请号: 202011602263.1 申请日: 2020-12-29
公开(公告)号: CN112669286A 公开(公告)日: 2021-04-16
发明(设计)人: 马国儒;梁轶循;于清林;王政;冯秀艳;邵路山;李小祥 申请(专利权)人: 北京建筑材料检验研究院有限公司;哈尔滨工业大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/13;G06T7/136;G06T7/62;G06T5/00
代理公司: 哈尔滨华夏松花江知识产权代理有限公司 23213 代理人: 岳昕
地址: 100041 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 基于 红外 外墙 保温 系统 缺陷 识别 损伤 程度 评价 方法
【权利要求书】:

1.基于红外热像的外墙外保温系统缺陷识别与损伤程度评价方法,其特征在于:所述方法具体过程为:

步骤一、无人机采集建筑外墙的红外热像图,对采集的红外热像图进行图像去噪处理,然后将去噪处理后的图像转化为灰度图像,绘制灰度直方图;

步骤二、计算灰度图像中像素点的灰度梯度,然后进行非极大值抑制,最后进行阈值筛选,获得边缘检测二值图;

步骤三、运用轮廓提取算法提取边缘检测二值图的轮廓,完成轮廓提取;利用轮廓勾勒算法对提取的轮廓进行勾勒,得到轮廓提取及勾勒后的二值图;

步骤四、对轮廓提取及勾勒后的二值图进行阈值分割,将二值图缺陷和背景分割开;

步骤五,基于步骤四,计算缺陷面积和损伤程度。

2.根据权利要求1所述基于红外热像的外墙外保温系统缺陷识别与损伤程度评价方法,其特征在于:所述步骤一中无人机采集建筑外墙的红外热像图,对采集的红外热像图进行图像去噪处理,然后将去噪处理后的图像转化为灰度图像,绘制灰度直方图;具体过程为:

对采集的红外热像图采用高斯滤波进行图像去噪。

3.根据权利要求1或2所述基于红外热像的外墙外保温系统缺陷识别与损伤程度评价方法,其特征在于:所述步骤二中计算灰度图像中像素点的灰度梯度,然后进行非极大值抑制,最后进行阈值筛选,获得边缘检测二值图;具体过程为:

步骤二一、计算灰度图像中像素点的灰度梯度;

步骤二二、对步骤二一中求灰度梯度后的灰度图像中像素点进行非极大值抑制;

步骤二三、对步骤二二得到的灰度图像中像素点进行阈值筛选,获得边缘检测二值图。

4.根据权利要求3所述基于红外热像的外墙外保温系统缺陷识别与损伤程度评价方法,其特征在于:所述步骤二一中计算灰度图像中像素点的灰度梯度;具体过程为:

利用Sobel算子对去噪后的灰度图像在水平和垂直方向上进行滤波,获得各像素点x,y两个方向的一阶导数Gx,Gy,灰度图像中像素点的灰度梯度计算公式如下:

对上式进行简化,如下:

G=GX|+|GY|

式中,Gx,Gy分别为利用Sobel算子对去噪后的灰度图像在水平和垂直方向上进行滤波获取的x,y两个方向的一阶导数,x方向为平行于灰度图像矩阵行的方向,y方向为平行于灰度图像矩阵列的方向。

5.根据权利要求4所述基于红外热像的外墙外保温系统缺陷识别与损伤程度评价方法,其特征在于:所述步骤二三中对步骤二二得到的灰度图像中像素点进行阈值筛选,获得边缘检测二值图;具体过程为:

针对各像素点处的灰度梯度设置两个阈值,minValue和maxValue,将像素点分成了三部分;

灰度梯度大于maxValue的点必定是边缘点;

灰度梯度小于minValue的点必定是非边缘点;

而介于两者之间的点需要根据连通性判断,若与边缘点相连,则该点为边缘点,否则为非边缘点;

根据边缘点得到边缘检测二值图。

6.根据权利要求5所述基于红外热像的外墙外保温系统缺陷识别与损伤程度评价方法,其特征在于:所述步骤三中运用轮廓提取算法提取边缘检测二值图的轮廓,完成轮廓提取;利用轮廓勾勒算法对提取的轮廓进行勾勒,得到轮廓提取及勾勒后的二值图;具体过程为:

运用OpenCV中的轮廓提取算法findContours提取边缘检测二值图的轮廓,完成轮廓提取,利用OpenCV中的drawContours算法对提取的轮廓进行勾勒,得到轮廓提取及勾勒后的二值图。

7.根据权利要求6所述基于红外热像的外墙外保温系统缺陷识别与损伤程度评价方法,其特征在于:所述步骤四中对轮廓提取及勾勒后的二值图进行阈值分割,将二值图缺陷和背景分割开;具体过程为:

阈值分割二值图中各像素点的像素值计算公式如下:

式中,f(x,y)表示高斯去噪后的灰度图像中坐标为(x,y)的像素点的像素值,g(x,y)表示阈值分割后获得的二值图中坐标为(x,y)的像素点的像素值,T为阈值。

8.根据权利要求7所述基于红外热像的外墙外保温系统缺陷识别与损伤程度评价方法,其特征在于:所述步骤五中基于步骤四,计算缺陷面积和损伤程度;具体过程为:

统计缺陷对应的像素点数得到缺陷面积占比,即为损伤程度,根据实际面积可得缺陷面积,输出结果。

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