[发明专利]一种小屏蔽体的时域脉冲屏蔽效能测试装置和方法

说明书

本发明公开了一种小屏蔽体的时域脉冲屏蔽效能测试装置和方法。该小屏蔽体的时域脉冲屏蔽效能测试装置，包括：脉冲发射系统、天线系统、待测屏蔽体和接收系统。通过这一具体结构设置，本发明使用脉冲信号而不是连续波信号作为测量信号，并通过时域－频域转换得到频率信息，一次测量即可完成全频段测量，不仅从原理上更加贴近实际使用情况，测量结果更加客观真实，进而使得小屏蔽体的时域脉冲屏蔽效能测试操作步骤更加简便、测量效率更加精确。

技术领域

本发明涉及电子设备技术领域，特别是涉及一种小屏蔽体的时域脉冲屏蔽效能测试装置和方法。

背景技术

小屏蔽体作为一种常用的电磁波防护装置广泛应用于通讯、航空、航天等各个行业，常见的小屏蔽体有屏蔽机箱、屏蔽机柜、屏蔽舱等。小屏蔽体一般指的是最大边长小于2m的屏蔽体，因为其体积偏小，因此其屏蔽效能的测试方法有别于传统的屏蔽壳体测试。

目前国内外对小屏蔽体屏蔽效能的测试主要分为三类：一类是外置辐射天线法，即将发射天线置于小屏蔽体外，将接收天线置于小屏蔽体内，并通过小屏蔽体上的转接头将接收天线的信号引出；第二类是内置辐射源法，即将小型一体化辐射源置于小屏蔽体内，将接收天线置于屏蔽体外进行测试；第三类是高场强法，即通过外置的大功率天线施加一个高场强信号作用于小屏蔽体上，通过内置于小屏蔽体的场强探头接收被测小屏蔽体内部的场强。

其中，外置辐射天线法是最常用的方法，其测试布置见图1，在屏蔽壳体外面产生一个辐射场，用接收天线测量有屏蔽壳体和无屏蔽壳体时的场强，这两个场强值用分贝表示，数值相减即得到屏蔽壳体的屏蔽效能。

按公式(1)计算屏蔽壳体的屏蔽效能：

S＝A₂–A₁ (1)

式中：S—屏蔽效能，单位为分贝(dB)；A₁—有屏蔽壳体时测得的最大信号电平，单位为dBm或dBμV；A₂—无屏蔽壳体时测得的信号电平，单位为dBm或dBμV。

该种方法的测量步骤如下：

a)根据测量要求设置信号源的频率，调节信号源的输出电平，使在接收设备上有适当的信号指示；

b)微调发射天线的极化方向，使接收设备收到的信号最大。记录信号源的输出电平和接收设备的测量值，接收设备的测量值记为A₁。

c)改变信号源的频率，重复步骤a)～步骤b)，直到测量完所有需要测量的频率点。

d)对于有极化方向的接收天线，应改变天线的极化方向，重复步骤a)～步骤c)。

e)移走被测屏蔽壳体，并保持发射天线和接收探头的空间位置和极化方向不变，调整信号源的频率和输出电平与步骤c)和d)的记录相同，记录每个频率点上接收设备测量的最大信号电平，记为A₂。

f)按公式1计算屏蔽效能。在同一频率点取屏蔽效能最差的数值作为屏蔽效能的最后取值。

g)根据需要置发射天线于被测屏蔽壳体的其它位置，重复步骤a)～f)。

内置辐射源法是在待测屏蔽体内部产生一个辐射场，用接收天线测量有无屏蔽体时接收到的信号强度，比较这两个信号强度即可得到屏蔽体的屏蔽效能。待测屏蔽体内部辐射场可用两种方法产生：第一种方法是用小辐射源产生，简称辐射源内置法；第二种方法是用辐射天线产生，简称辐射天线内置法。内置辐射源法适合测量那些用来防止内部信号向外辐射的屏蔽壳体。其测试布置见图2。

内置辐射源法的测量步骤包括：

a)打开小辐射源电源开关，使其处于正常工作状态，置于被测屏蔽壳体内，将屏蔽壳体恢复原状。