[发明专利]验证方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质

说明书

一种用于集成电路设计的验证方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质。该验证方法包括：获取第一覆盖率报告，第一覆盖率报告包括对集成电路设计的多个功能模块进行验证而得到的覆盖率信息；基于第一覆盖率报告，确定多个功能模块中每个功能模块的覆盖率子信息；以及根据每个功能模块的覆盖率子信息，生成每个功能模块各自的第二覆盖率报告。该验证方法可以对第一覆盖率报告中的覆盖率信息进行整理得到每个功能模块各自的第二覆盖率报告，从而各个功能模块的验证人员可以分别对功能模块的第二覆盖率报告进行进一步的分析，进而提高覆盖率分析的效率。

技术领域

本公开的实施例涉及一种用于集成电路设计的验证方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质。

背景技术

大规模集成电路设计的验证一直由于其仿真时间长，验证质量难以保证而成为芯片开发流程中比较耗时且难以很好把控的部分。目前，常用代码覆盖率、断言覆盖率、功能覆盖率等覆盖率信息来评价验证质量。例如，在对集成电路设计验证的过程中，收集验证过程中产生的覆盖率信息并生成覆盖率报告，以便通过分析覆盖率报告来评价验证质量。

发明内容

本公开至少一个实施例提供一种用于集成电路设计的验证方法，集成电路设计包括多个功能模块，验证方法包括：获取第一覆盖率报告，第一覆盖率报告包括对集成电路设计的多个功能模块进行验证而得到的覆盖率信息；基于第一覆盖率报告，确定多个功能模块中每个功能模块的覆盖率子信息；以及根据每个功能模块的覆盖率子信息，生成每个功能模块各自的第二覆盖率报告。

例如，在本公开一实施例提供的验证方法中，基于第一覆盖率报告，确定多个功能模块中每个功能模块的覆盖率子信息，包括：基于第一覆盖率报告，确定多个功能模块中每个功能模块所包括的验证对象的覆盖率子信息。

例如，在本公开一实施例提供的验证方法中，验证对象包括功能模块的接口和与功能模块相关的信号中的至少一个。

例如，在本公开一实施例提供的验证方法中，验证方法还包括从第一覆盖率报告中提取在对多个功能模块进行验证的过程中未被覆盖到的验证对象而生成第一文件，以向第一文件添加附加信息，附加信息用于指示未被覆盖到的验证对象是否为可忽略对象；以及根据附加信息，从第一文件中提取出可忽略对象的对象信息而生成第二文件，对象信息包括附加信息。

例如，在本公开一实施例提供的验证方法中，基于第一覆盖率报告，确定多个功能模块中每个功能模块所包括的验证对象的覆盖率子信息，包括：读取第二文件，并根据第二文件中的可忽略对象的对象信息和覆盖率信息生成第三覆盖率报告；以及从第三覆盖率报告中提取多个功能模块中每个功能模块所包括的验证对象的覆盖率子信息，根据从第三覆盖率报告提取的每个功能模块所包括的验证对象的覆盖率子信息，生成每个功能模块各自的第二覆盖率报告，第二覆盖率报告包括附加信息。

例如，在本公开一实施例提供的验证方法中，覆盖率子信息包括附加信息。

例如，在本公开一实施例提供的验证方法中，附加信息包括指示信息和可忽略对象被忽略的原因，指示信息用于指示未被覆盖到的验证对象是否为可忽略对象，可忽略对象的对象信息包括可忽略对象的标识和附加信息。

例如，在本公开一实施例提供的验证方法中，根据每个功能模块的覆盖率子信息，生成每个功能模块各自的第二覆盖率报告，包括：将每个功能模块的覆盖率子信息分别以电子表格中工作表的形式输出，以生成每个功能模块各自的第二覆盖率报告。

例如，在本公开一实施例提供的验证方法中，覆盖率信息包括翻转覆盖率信息。