[发明专利]样本分析仪用光度计的光路系统

权利要求书

1.一种样本分析仪用光度计的光路系统，其特征在于，在光路上依次包括：

前光路系统、比色容器和后光路系统；

所述前光路系统包括光源、聚光透镜和光阑；

经过所述光阑的光束穿过所述比色容器并进入到后光路系统，光阑到比色容器前面外壁的距离为2.0mm-4.0mm；

所述光源距离所述聚光透镜的距离为物距U，聚光透镜的焦距为f，其中U＝1.0f-2.0f，f为24mm～36mm。

2.根据权利要求1所述的样本分析仪用光度计的光路系统，其特征在于：所述光源为细圆柱形的光源，所述光阑为矩形光阑。

3.根据权利要求2所述的样本分析仪用光度计的光路系统，其特征在于：光源的灯丝长度3.0mm-4.0mm，灯丝直径0.6mm-1.0mm。

4.根据权利要求1所述的样本分析仪用光度计的光路系统，其特征在于：光阑的尺寸为：高为1.0mm-1.5mm，宽为1.6mm-2.0mm。

5.根据权利要求1-4任一所述的样本分析仪用光度计的光路系统，其特征在于：所述后光路系统包括准直成像透镜，光阑到准直成像透镜的距离为D，准直成像透镜的焦距为F，且满足1.0F≦D≦1.5F。

6.根据权利要求5所述的样本分析仪用光度计的光路系统，其特征在于：所述后光路系统还包括后光路分光系统，经过所述准直成像透镜的光束进入到后光路分光系统。

7.根据权利要求6所述的样本分析仪用光度计的光路系统，其特征在于：所述后光路分光系统为光栅分光系统，后光路分光系统还包括狭缝、光栅和硅光电二极管阵列；其中狭缝和光源的灯丝长度方向一致，光栅将进入后光路的白光分成波长随空间分布的单色光，硅光电二极管阵列将光信号转化为电信号。

8.根据权利要求6所述的样本分析仪用光度计的光路系统，其特征在于：所述后光路分光系统为滤光片分光系统，滤光片分光系统包括分光片、滤光片、独立式硅光电二极管和透镜。

9.根据权利要求5所述的样本分析仪用光度计的光路系统，其特征在于：反应盘的盘间杯跳为a，光学系统、反应盘以及整机其他结构共同引起的光斑相对于比色容器的位置的偏差为b，故光斑底部到比色容器内底壁的距离z至少为a+b；设比色容器的横截面积为s，因加入比色容器的液体会有凹面，凹面损耗的测光液体体积为v₁，光斑的有效高度d，最小反应体积为v，则d≦v/s-a-b-v₁/s。