[发明专利]用于检测偏振编码QKD设备光源注锁漏洞的装置、方法及攻击端

权利要求书

1.用于检测偏振编码QKD设备光源注锁漏洞的攻击端，其中，所述偏振编码QKD设备的发送方在正常工作下发送的偏振编码信号光具有第一波长λ_Alice，其特征在于：

所述攻击端包括光源模块、光路控制模块、滤波器、测量模块、以及光脉冲制备模块；

所述光源模块被设置用于生成攻击光脉冲，其具有随机选择的偏振态和第二波长λ_Eve，其中，所述第二波长λ_Eve不同于所述第一波长λ_Alice；

所述光路控制模块被设置用于实现所述光源模块与所述发送方之间的光路连接，以及所述发送方与所述滤波器之间的光路连接；

所述滤波器被设置成其允许通过的中心波长仅为第三波长λ_change，所述第三波长λ_change为所述发送方被所述攻击光脉冲攻击时发送的偏振编码信号光的波长；

所述测量模块被设置用于测量由所述滤波器输出的偏振编码信号光；

所述光脉冲制备模块被设置用于制备其偏振态与所测量的偏振编码信号光的偏振态相同的伪态光脉冲，并将其发送给所述偏振编码QKD设备的接收方，其中，所述伪态光脉冲具有所述第一波长λ_Alice。

2.如权利要求1所述的攻击端，其中，所述光路控制模块具有第一端口、第二端口和第三端口，且经所述第一端口输入的光信号由所述第二端口输出，经所述第二端口输入的光信号由所述第三端口输出；并且，

所述光路控制模块的第一端口、第二端口和第三端口分别连接所述光源模块、所述发送方和所述滤波器。

3.如权利要求2所述的攻击端，其中，所述光路控制模块包括环形器、分束器或者耦合器。

4.如权利要求1所述的攻击端，其中，所述光脉冲制备模块被设置成：在所述测量模块测量到具有所述第三波长λ_change的偏振编码信号光后，根据所述光源模块在所述攻击光脉冲上选择的偏振态，制备所述伪态光脉冲。

5.如权利要求4所述的攻击端，其中，所述光脉冲制备模块被进一步设置成能够调节所述伪态光脉冲的强度，使其具有与输入所述光路控制模块的偏振编码信号光相同的强度。

6.如权利要求5所述的攻击端，其中，所述光脉冲制备模块包括强度可调节的激光器、强度调制器、或者可调衰减器。

7.用于偏振编码QKD设备光源注锁漏洞的检测装置，其包括如权利要求1-6中任一项所述的攻击端，以及判断模块；

所述判断模块被设置用于，根据接收方对所述伪态光脉冲的测量结果，判断所述偏振编码QKD设备是否存在光源注锁漏洞。

8.如权利要求7所述的检测装置，其中，所述测量结果包括对所述伪态光脉冲的探测计数；并且，所述判断模块被设置成在所述伪态光脉冲的探测计数超过预设阈值时，判断所述偏振编码QKD设备存在光源注锁漏洞。