[发明专利]一种基于改进型LED矩阵无透镜成像方法在审
申请号: | 202011611135.3 | 申请日: | 2020-12-30 |
公开(公告)号: | CN112580808A | 公开(公告)日: | 2021-03-30 |
发明(设计)人: | 赵巨峰;张培伟;崔光茫;吴小辉 | 申请(专利权)人: | 杭州电子科技大学 |
主分类号: | G06N3/08 | 分类号: | G06N3/08;G02B21/36;G02B21/06 |
代理公司: | 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 | 代理人: | 尉伟敏 |
地址: | 310018 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 改进型 led 矩阵 透镜 成像 方法 | ||
1.一种基于改进型LED矩阵无透镜成像方法,其特征在于,它包括下列步骤:
S1:单片机对LED矩阵光源进行编码曝光,使LED灯按规律依次点亮,每次点亮的光通过成像装置,然后在电荷耦合元件传感器上获得低分辨率的强度图像In;
S2:将获得的强度图像In根据迭代算法重建出一张高分辨率的图像;
S3:深度神经网络对成像质量进行自动判别,输出高质量的图片。
2.根据权利要求1所述的一种基于改进型LED矩阵无透镜成像方法,其特征在于,所述的步骤S1中,单片机控制LED灯点亮的方式为:
单片机通过编码控制其相应引脚的电压变化来控制LED矩阵中LED灯的亮灭;单片机控制LED矩阵每一次点亮不同数量、不同位置的LED灯,N×N的LED矩阵一共进行N/2+1次点亮,第n次点亮4(n-1)个灯,n2。
3.根据权利要求1所述的一种基于改进型LED矩阵无透镜成像方法,其特征在于,所述的步骤S1进一步包括:
S1.1:第一次点亮,单片机控制LED矩阵使用i1安培的电流点亮位于成像系统轴向位置的LED,LED发出的总光强为:
e1(r)=e1,1(r)
然后光通过成像装置,在电荷耦合元件传感器上得到
其中1,1表示第一次点亮时的第一个LED,e11(r)表示点亮的一个LED灯发出的光强,表示第一次点亮时电荷耦合元件传感器上获取的强度信息;
S1.2:第二次点亮,单片机分别使用:
安培的电流点亮四个分别位于中心LED外一维四个角上的LED,发出的总光强为:
e2(r)=e2,1(r)+e2,2(r)+e2,3(r)+e2,4(r)
然后光通过成像装置,在电荷耦合元件传感器上得到
其中d2,1表示第二次点亮时外一维四个角上的LED到中心LED的距离,h表示中心LED距离待测样品的距离,e2,1(r),e2,2(r),e2,3(r),e2,4(r)分别为四个LED发出的光强,表示第二次点亮时电荷耦合元件传感器上获取的强度信息;
S1.3:第三次点亮,单片机分别使用:
安培的电流点亮四个分别位于中心LED的外二维四条边上等距分布的LED灯,分别使用:
安培的电流点亮四个分别位于中心LED的外二维四角上的LED灯,第三次点亮时发出的总光强为:
e3(r)=e3,1(r)+e3,2(r)+e3,3(r)......+e3,7(r)+e3,8(r)
然后光通过成像装置,在电荷耦合元件传感器上得到Iu3;
其中d3,1表示外二维四条边上等距分布的四个LED到中心LED的距离,d3,2表示外二维四角上四个LED到中心LED的距离,e3,1(r),e3,2(r),e3,3(r)……e3,7(r),e3,8(r)分别为八个LED灯发出的光强,Iu3表示第三次点亮时电荷耦合元件传感器上获取的强度信息;
S1.4:第n次点亮,单片机分别使用:
安培的电流点亮分别位于中心LED的外(n-1)维四条边上等距分布的4(n-2)个LED,分别使用:
安培的电流点亮四个分别位于中心LED的外(n-1)维四角上的LED灯,第n次点亮时发出的总光强为:
en(r)=en,1(r)+en,2(r)+......+en,4(n-1)(r)
然后光通过成像装置,在电荷耦合元件传感器上得到
其中dn,1表示外(n-1)维四条边上等距分布的4(n-2)个LED到中心LED的距离,dn,2表示外(n-1)维四角上四个LED到中心LED的距离,en,1(r),en,2(r),……en,4(n-1)(r)分别为4(n-1)个LED发出的光强,表示第n次点亮时电荷耦合元件传感器上获取的强度信息。
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