[发明专利]扣除其它核反应生成物对目标核反应截面测量影响的方法

说明书

本发明提供一种扣除其它核反应生成物对目标核反应截面测量影响的方法。在核反应截面测量中，如果其它核反应产物的半衰期远大于目标核反应产物的半衰期，则可用以下方法扣除其它反应产物对目标核反应截面测量的影响：对目标核反应的特征伽马射线测量两次，第一次测量不同反应产物衰变到目标反应产物的伽马射线全能峰面积Csubgt;11/subgt;与第二次测量的伽马射线全能峰面积Csubgt;12/subgt;的关系为在用核反应截面一般计算公式测量目标核反应截面时，其中的伽马射线全能峰面积Csubgt;x/subgt;应为第一次实测的目标核反应产物的伽马射线全能峰面积减去Csubgt;11/subgt;，而Csubgt;11/subgt;可由与Csubgt;12/subgt;的上述关系式得到。

技术领域

本发明属于核能发展技术领域，具体涉及一种扣除其它核反应生成物对目标核反应截面测量影响的方法。

背景技术

随着新时期我国国防建设与核能应用的不断发展,以新一代核能系统和核装置研发为代表的核科技发展对核数据的质量、数量和种类等都提出了更高水平的要求。精确可靠的核反应截面实验值对校验用于核反应截面计算的核理论模型的准确性，以及核技术应用、核能的开发利用等都具有十分重要的意义。在核反应截面的实际测量中，有许多问题都需要被合理解决才能获得精确可靠的核反应截面实验值，如中子波动校正、伽马射线在样品中的自吸收校正、级联伽马射线的符合加合效应校正、样品几何校正、具有相近能量伽马射线的相互影响、生成核的激发态对基态的影响、所有可能核反应的相互影响等。

对于所有可能核反应的相互影响问题，通常可以通过同位素分离富集方法，或根据生成核的半衰期不同而采用在样品被辐照后使样品冷却不同的时间来解决。然而，在同位素分离富集方法不能用，且在实验中使用含有多种稳定同位素的天然样品情况下，有时很难避免其它不同核反应产物衰变对目标核反应截面测量的影响。例如，在上述情况下，图1所示的目标核反应⁹¹Zr(n,p)^91mY将受到来自其它不同反应⁹⁴Zr(n,a)⁹¹Sr生成物⁹¹Sr衰变为^91mY的影响。在这种情况下，为了获得精确可靠的⁹¹Zr(n,p)^91mY核反应截面实验值，其它不同核反应⁹⁴Zr(n,a)⁹¹Sr的生成物⁹¹Sr衰变为^91mY，因而对目标核反应⁹¹Zr(n,p)^91mY的截面测量影响必须被扣除，否则会引起很大的误差。然而，到目前为止，用于扣除不同核反应物衰变对目标核反应截面测量影响的方法仅被文献[1-2]提及，并给出一个扣除影响的公式。但是，所给出的公式仅限于解决当其它不同核反应产物衰变为目标核反应产物的分枝比已知，且其它不同核反应的截面已知的情况。对在其它不同核反应产物衰变分支比未知的情况下，如何扣除不同核反应产物衰变对目标核反应截面测量影响的方法，至今未见有报导。本发明给出一种适用于其它不同核反应产物衰变到目标核反应产物的总分枝比未知(或已知)，且其它不同核反应产物的半衰期远大于目标反应产物的半衰期情况下，扣除其它不同核反应产物衰变对目标核反应截面测量影响的方法，可广泛应用于解决在核反应截面测量中在此情况下扣除其它不同核反应产物衰变对目标核反应截面测量影响的问题。

[1]Junhua Luo,FeiTuo,Xiangzhong Kong,Rong Liu,and Li Jiang,Measurements of activation cross-sections for the ⁹⁶Ru(n,d*)^95gTc reaction forneutrons with energies between 13.3and 15.0MeV.Appl.Radiat.Isot.

66,1920-1924(2008)。