[发明专利]解答题的答案分析方法、电子设备及存储介质

说明书

本申请公开了一种解答题的答案分析方法、电子设备及存储介质。该方法包括：获取解答题的实际答案和标准答案；利用结论分析模型基于标准答案判断实际答案是否错误；若错误，则分别利用错因分析模型获取实际答案和标准答案的向量表示；基于实际答案和标准答案的向量表示，分析实际答案的错因。通过上述方式，能够分析解答题的实际答案的错因。

技术领域

本申请涉及自然语言处理领域，特别是涉及一种解答题的答案分析方法、电子设备及存储介质。

背景技术

学生的学习过程通常可以概括为：同步学习某知识点，课后练习对应习题，同步测试，根据练习和测评结果再确认学生是否掌握该知识点或方法。

目前得到练习和测评结果大多数依靠学生或者老师批改获得，无法定位每个学生错题的原因。从学生批改的角度来说，学生自己批改无法客观准确，并且很难定位自己的错误原因。从老师的角度来说，老师批改需要面对一个班级甚至多个班级的学生，工作量巨大，要分析出每个学生错题的具体原因，需要投入非常大的精力，目前绝大多数老师没有时间做这件事。

发明内容

本申请提供一种解答题的答案分析方法、电子设备及存储介质，能够分析解答题的答案的错因。

为解决上述技术问题，本申请采用的一个技术方案是：提供一种解答题的答案分析方法。该方法包括：获取解答题的实际答案和标准答案；利用结论分析模型基于标准答案判断实际答案是否错误；若错误，则分别利用错因分析模型获取实际答案和标准答案的向量表示；基于实际答案和标准答案的向量表示，分析实际答案的错因。

为解决上述技术问题，本申请采用的另一个技术方案是：提供一种电子设备，该电子设备包括处理器、与处理器连接的存储器，其中，存储器存储有程序指令；处理器用于执行存储器存储的程序指令以实现上述方法。

为解决上述技术问题，本申请采用的又一个技术方案是：提供一种存储介质，存储有程序指令，该程序指令被执行时能够实现上述方法。

通过上述方式，本申请能够判断实际答案是否错误，并且在判断出实际答案错误的基础上，进一步利用错因分析模型获取实际答案和标准答案的向量表示，并基于实际答案和标准答案的向量表示得到实际答案的错因。

附图说明

图1是本申请解答题的答案分析方法实施例一的流程示意图；

图2是本申请解答题的答案分析方法实施例二的流程示意图；

图3是图2中S24的具体流程示意图；

图4是本申请解答题的答案分析方法实施例三的流程示意图；

图5是本申请解答题的答案分析方法实施例四的流程示意图；

图6是图6中S42的具体流程示意图；

图7是本申请错因分析模型的结构示意图；

图8是本申请电子设备一实施例的结构示意图；

图9是本申请存储介质一实施例的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

本申请中的术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”、“第三”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。本申请的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。