[发明专利]一种等级分选的方法和测试设备

权利要求书

1.一种等级分选的方法，其特征在于，应用于测试设备，所述测试设备包括：处理器、检测装置和打码装置；

所述检测装置响应于获取的成功信息，检测绝缘栅双极型晶体管IGBT单管的导通压降值和开通阈值电压值；

所述检测装置向所述处理器发送所述导通压降值和所述开通阈值电压值；

所述处理器根据存储的所述导通压降值、所述开通阈值电压值和所述IGBT单管的等级的对应关系，查询出所述导通压降值和所述开通阈值电压值对应的所述IGBT单管的等级；

所述处理器向所述打码装置发送所述等级；

所述打码装置根据所述等级对所述IGBT单管进行打码，生成等级追溯码。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述检测装置响应于获取的成功信息，检测所述IGBT单管的导通压降值和开通阈值电压值之前包括：

所述处理器判断获取的击穿电压值是否位于第一设定范围内，获取的方向二极管导通压降值是否位于第二设定范围内，获取的集电极漏电流值是否位于第三设定范围内和获取的门极电流值是否位于第四设定范围内；

所述处理器若判断出所述击穿电压值位于第一设定范围内，所述方向二极管导通压降值位于第二设定范围内，所述集电极漏电流值位于第三设定范围内且所述门极电流值位于第四设定范围内，确定出测试成功；

所述处理器向所述检测装置发送成功信息。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述测试设备还包括探针，所述探针包括第一探针、第二探针和第三探针，所述处理器判断获取的击穿电压值是否位于第一设定范围内，获取的方向二极管导通压降值是否位于第二设定范围内，获取的集电极漏电流值是否位于第三设定范围内和获取的门极电流值是否位于第四设定范围内之前包括：

所述第一探针压紧IGBT单管的门极；

所述第二探针压紧IGBT单管的发射极；

所述第三探针压紧IGBT单管的集电极；

所述检测装置检测所述IGBT单管的击穿电压值、方向二极管导通压降值、集电极漏电流值和门极电流值。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括：

所述处理器若判断出第一条件、第二条件、第三条件和第四条件中不满足任一条件，则确定出测试失败，其中，所述第一条件包括所述击穿电压值位于第一设定范围内，所述第二条件包括所述方向二极管导通压降值位于第二设定范围内，所述第三条件包括所述集电极漏电流值位于第三设定范围内，所述第四条件包括所述门极电流值位于第四设定范围内。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试设备还包括扫码相机和运送装置，所述打码装置根据所述等级对所述IGBT单管进行打码，生成等级追溯码之后包括：

所述打码装置向所述扫码相机发送打码完成指令；

所述扫码相机响应于所述打码完成指令，对所述等级追溯码进行扫码，并将所述等级追溯码上传至生产执行系统MES；

所述扫码相机向所述运送装置发送扫码完成指令。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述扫码相机向所述运送装置发送扫码完成指令之后包括：

所述运送装置响应于所述扫码完成指令，将所述IGBT单管运送至分选设备，以供所述分选设备根据所述等级追溯码对所述IGBT单管进行分选。

7.根据权利要求1或6所述的方法，其特征在于，所述等级追溯码包括等级码和追溯码。

8.一种测试设备，其特征在于，执行权利要求1所述的等级分选的方法，所述测试设备包括：处理器、检测装置和打码装置；

所述检测装置，用于响应于获取的成功信息，检测所述IGBT单管的导通压降值和开通阈值电压值；向所述处理器发送所述导通压降值和所述开通阈值电压值；

所述处理器，用于根据存储的所述导通压降值、所述开通阈值电压值和所述IGBT单管的等级的对应关系，查询出所述导通压降值和所述开通阈值电压值对应的所述IGBT单管的等级；向所述打码装置发送所述等级；

所述打码装置，用于根据所述等级对所述IGBT单管进行打码，生成等级追溯码。