[发明专利]一种笔电外壳缺陷快速检测算法

权利要求书

1.一种笔电外壳缺陷快速检测算法，其特征在于：包括步骤

S101，利用摄像头分别在相同的相对位置下获取分辨率为a*b的待检验笔电外壳的待测图像和无缺陷笔电外壳的标准模板图像；

S102，将待测图像和标准模板图像分别转换为bufferedimage格式，然后再将标准模板图像转换为长度为a*b的灰度值二维数组Rm[a][b]；

S103，从标准模板图像中截取分辨率为c*d的检测区的图像，其中0＜c≤a和0＜d≤b，同样把检测区图像转换到灰度值二维数组R[c][d]；

S104，在待测图像中利用二维映射快速定位法对对应检测区进行粗定位，找到对应检测区在待测图像中的粗定位数组Rt[c+δ][d+η]，其中δ和η为粗定位增益区，满足0＜δ＜(a-c)和0＜η＜(b-d)，二维映射快速定位法的过程如下：

先将二维数组R[c][d]在某一维度上进行长度为c或d的映射计算，假设是在c维度上做长度为d的映射，即对R[c][d]每一行累加得到检测区映射一维数组R'[c]，同理对标准模板图像Rm[a][b]也做同维度和长度的映射，得到标准模板图像映射二维数组Rm'[e][f]，其中0＜e≤(a-c)和0＜f≤(b-d)；

设定坐标(i,j)其中0＜i＜e和0＜j＜f,在Rm'[e][f]的坐标(i,j)上截取和R'[c]同属性的临时数组并与R'[c]每个值作差值比对，统计差值小于θ数量，变化坐标(i,j)并做同样的差值比对和统计，得到差值合格数最多的临时数组坐标(i,j)max，再在Rm[a][b]中用坐标(i,j)max截取分辨率为(c+δ)*(d+η)粗定位图；

把分辨率为(c+δ)*(d+η)粗定位图通过canny算子计算出对应的边缘检测图，最后把此缘检测图转换为表示在待测图像中的二维数组Rt[c+δ][d+η]；

S105，将步骤S103中截取的检测区图像通过canny算子计算出对应的边缘检测图，边缘检测图的每个像素只有黑白两值即0和255，并转换为二维数组R”[c][d]；

S106，将步骤S104中找到的粗定位数组Rt[a+δ][b+η]中利用点阵匹配法对检测区进行精定位，找到检测区在粗定位数组Rt[c+δ][d+η]的精确定位图Rt'[c][d]，具体步骤包括：

先在标准模板图像的检测区灰度值二维数组R”[c][d]中以步长ε抽取点(x,y)，抽取到的每个点的坐标保存到二维数组中形成点阵数组Rp[g][h]，其中g＝[c/ε]和h＝[d/ε]；

设定坐标(i,j)其中0＜i＜δ和0＜j＜η，然后在Rt[c+δ][d+η]的坐标(i,j)上截取和R”[c][d]同属性的临时数组，遍历点阵数组Rp[g][h]得到每一个抽取点的坐标(x,y)，计算R”[c][d]和临时数组在(x,y)的四个邻域点(x+1,y)、(x,y+1)、(x-1,y)、(x,y-1)上值相同个数；

如果相同个数大于等于3视两数组在坐标(x,y)上的点为相似点，于是每变化一次坐标(i,j)可以统计到一次相似点的数量，得到相似点数最多的临时数组坐标(i,j)'max；

在步骤S104中截取的分辨率为(c+δ)*(d+η)粗定位图中的用坐标(i,j)'max截取精确定位图，把此精确定位图通过canny算子计算出对应的边缘检测图，最后把此边缘检测图转换为二维数组Rt'[c][d]；

S107，使用数组R”[c][d]对Rt'[c][d]进行和差计算，具体步骤包括：

设定坐标(i,j)”其中0＜i＜c和0＜j＜d；

如果数组R”[c][d]在(i,j)”的值为0或255而Rt'[c][d]在(i,j)”的值为255，则和差数组Rt”[c][d]在(i,j)”的值设置为255；

如果数组R”[c][d]在(i,j)”的值为0或255而Rt'[c][d]在(i,j)”的值为0，则和差数组Rt”[c][d]在(i,j)”的值设置为0；

最终坐标(i,j)”在范围内遍历一次后得到和差数组Rt”[c][d]，此数组还原成图像就是只剩下缺陷的边缘和差图；

S108，设定步长λ，在和差数组Rt”[c][d]中一步长λ划分网格，循环统计出每个网格中值为255的个数，当个数超过设定的阈值σ时候即可算作即缺陷，在和差数组Rt”[c][d]中把此网格范围进行标记，最终得到标记好的缺陷检测结果图二维数组。