[发明专利]毫米波与太赫兹波电场测量方法、装置及系统有效
申请号: | 202011619358.4 | 申请日: | 2020-12-30 |
公开(公告)号: | CN112798875B | 公开(公告)日: | 2023-08-08 |
发明(设计)人: | 张新定;廖开宇;颜辉 | 申请(专利权)人: | 清远市天之衡传感科技有限公司 |
主分类号: | G01R29/08 | 分类号: | G01R29/08 |
代理公司: | 广州高炬知识产权代理有限公司 44376 | 代理人: | 高雁 |
地址: | 511500 广东省清远市高新技术产业开发区科技创新园*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 毫米波 赫兹 电场 测量方法 装置 系统 | ||
1.一种毫米波与太赫兹波电场测量方法,其特征在于,包括步骤:
获取原子泡腔内驻波对电磁波幅度的增幅值,以确定修正系数;
所述获取原子泡腔内驻波对电磁波幅度的增幅值,以确定修正系数的过程,包括步骤:
对所述原子泡腔内驻波现象进行定量计算,得到驻波对电磁波幅度的增幅值;其中,所述增幅值为所述修正系数;
其中,驻波沿相反方向传播的波用以下方程表示:
其中,y0是波的振幅;ω是角频率,ω=2πf;k为波数;x和t分别代表坐标和时间的变量;
两波叠加后的结果如下式:
y=y0sin(kx-ωt)+y0sin(kx+ωt)
简化后的结果如下式:
y=2y0cosωtsinωt
通过定量计算驻波对电磁波幅度的增幅值,将增幅值作为修正系数;
根据探测光在玻璃探头内部沿直径方向移动一个驻波周期所确定的测量值;
所述根据探测光在玻璃探头内部沿直径方向移动一个驻波周期所确定的测量值的过程,包括步骤:
控制所述探测光的光源沿玻璃探头内部沿直径方向移动一个驻波周期,以确定所述测量值;
根据所述修正系数修正所述测量值,以获得毫米波与太赫兹波电场值。
2.根据权利要求1所述的毫米波与太赫兹波电场测量方法,其特征在于,所述根据所述修正系数修正所述测量值,以获得毫米波与太赫兹波电场值的过程,包括步骤:
求取所述测量值的平均值;
根据所述修正系数除以所述平均值,得到毫米波与太赫兹波电场值。
3.根据权利要求1或2所述的毫米波与太赫兹波电场测量方法,其特征在于,所述测量值包括一个驻波周期范围内各点电场强度的振幅值。
4.一种毫米波与太赫兹波电场测量装置,其特征在于,包括:
系数确定模块,用于获取原子泡腔内驻波对电磁波幅度的增幅值,以确定修正系数;
所述获取原子泡腔内驻波对电磁波幅度的增幅值,以确定修正系数的过程,包括步骤:
对所述原子泡腔内驻波现象进行定量计算,得到驻波对电磁波幅度的增幅值;其中,所述增幅值为所述修正系数;
其中,驻波沿相反方向传播的波用以下方程表示:
其中,y0是波的振幅;ω是角频率,ω=2πf;k为波数;x和t分别代表坐标和时间的变量;
两波叠加后的结果如下式:
y=y0sin(kx-ωt)+y0sin(kx+ωt)
简化后的结果如下式:
y=2y0cosωtsinωt
通过定量计算驻波对电磁波幅度的增幅值,将增幅值作为修正系数;
驻波测量模块,用于根据探测光在玻璃探头内部沿直径方向移动一个驻波周期所确定的测量值;
所述根据探测光在玻璃探头内部沿直径方向移动一个驻波周期所确定的测量值的过程,包括步骤:
控制所述探测光的光源沿玻璃探头内部沿直径方向移动一个驻波周期,以确定所述测量值;
电场修正模块,用于根据所述修正系数修正所述测量值,以获得毫米波与太赫兹波电场值。
5.一种计算机存储介质,其上存储有计算机指令,其特征在于,所述计算机指令被处理器执行时实现如权利要求1至3任意一项所述的毫米波与太赫兹波电场测量方法。
6.一种计算机设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行程序时实现如权利要求1至3任意一项所述的毫米波与太赫兹波电场测量方法。
7.一种毫米波与太赫兹波电场测量系统,其特征在于,包括精密位移台以及数据处理模块;
其中,所述精密位移台用于使探测光在玻璃探头内部沿直径方向移动一个驻波周期;
所述数据处理模块用于执行上述权利要求1至3任意一项所述的毫米波与太赫兹波电场测量方法。
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