[发明专利]一种用于气相色谱分析法分析氢同位素的低温控制装置

权利要求书

1.一种用于气相色谱法分析氢同位素的低温控制装置，其特征在于，包括制冷机构、冷头套件、色谱柱和色谱仪；所述色谱仪与所述色谱柱连接；所述制冷机构的冷头与所述色谱柱连接以提供冷源；所述色谱柱进行气体组分分离；所述色谱柱安装在所述冷头套件中；

所述制冷机构包括冷水机和制冷机，所述冷水机通过管道和制冷机相连；

还包括真空结构，所述真空结构包括真空腔室和真空泵，所述色谱柱和冷头套件设置在所述真空腔室中以提供降低漏热；

所述制冷机为脉管式制冷机，所述冷头套件为无氧铜材料制成的套管。

2.如权利要求1所述的用于气相色谱法分析氢同位素的低温控制装置，其特征在于，所述真空泵通过波纹管与真空腔室相连。

3.如权利要求1所述的用于气相色谱法分析氢同位素的低温控制装置，其特征在于，所述真空腔室与真空泵之间的管道上设置有隔离阀。

4.如权利要求1所述的用于气相色谱法分析氢同位素的低温控制装置，其特征在于，所述真空腔室上设置有放气阀。

5.如权利要求1所述的用于气相色谱法分析氢同位素的低温控制装置，其特征在于，所述色谱柱通过连接管与色谱仪连接；所述连接管为两根，分别连接所述色谱仪的进样系统和检测器。

6.如权利要求5所述的用于气相色谱法分析氢同位素的低温控制装置，其特征在于，所述连接管为不锈钢管材，柱径和色谱柱相同。

7.如权利要求5所述的用于气相色谱法分析氢同位素的低温控制装置，其特征在于，所述色谱柱和连接管通过金属接头连接。