[发明专利]校准激光扫平仪的方法和系统

说明书

本公开内容公开了校准激光扫平仪的方法和系统。所述方法包括：将激光扫平仪与探测器设置于同一水平面，使得激光扫平仪处于被探测位置；设置激光扫平仪处于打点模式或扇扫模式；在探测器探测到激光扫平仪发射的用于校准的激光射线时，探测器生成第一位置信息；在激光扫平仪旋转到第一旋转角度时，将激光扫平仪中的激光投射方向相对于激光扫平仪沿相反方向旋转第一旋转角度，使得探测器探测到激光扫平仪发射的用于校准的激光射线，以生成第二位置信息；以及基于第一位置信息和第二位置信息，确定是否需要对激光扫平仪进行校准。本公开内容使得激光扫平仪能够在扇扫模式或打点模式下利用探测器实现对其精度的检测和校准。

技术领域

本公开内容涉及智能测绘领域，并且更具体地，涉及校准激光扫平仪的方法和系统

背景技术

激光扫平仪的水平轴精度是指激光扫平仪正常安平之后进行水平面扫描时，水平面的前后左右四个方向中的每一个方向上，扫平仪激光面与绝对水平面的夹角大小的范围。根据几何原理，水平轴的精度还经常表示为某特定距离外的高度值范围。

现有的校准激光扫平仪的方法均是适用于旋转扫描模式下对激光扫平仪进行校准。由于探测器需要从环境光中分辨出激光扫平仪的激光射线，一般需要利用激光扫平仪的“周期性扫到探测器，从而产生光电信号”这一特点来实现，一般要求周期为某一个或者几个固定值。因此，现有的校准方法并不适于扇扫模式或打点模式操作下的激光扫平仪。

发明内容

针对上述问题，本公开内容的第一方面提出了一种校准激光扫平仪的方法，其包括：

将激光扫平仪与探测器设置于同一水平面，使得所述激光扫平仪处于被探测位置；

设置所述激光扫平仪处于打点模式或扇扫模式；

在所述探测器探测到所述激光扫平仪发射的用于校准的激光射线时，所述探测器生成第一位置信息；

在所述激光扫平仪旋转到第一旋转角度时，将所述激光扫平仪中的激光投射方向相对于所述激光扫平仪沿相反方向旋转所述第一旋转角度，使得所述探测器探测到所述激光扫平仪发射的所述用于校准的激光射线，以生成第二位置信息；以及

基于所述第一位置信息和所述第二位置信息，确定是否需要对所述激光扫平仪进行校准。

根据本发明的一个示例性的实施例，所述方法还包括：

所述激光扫平仪接收所述第一位置信息和所述第二位置信息，并生成校准信息，在所述校准信息超过阈值的情况下，基于所述校准信息进行校准；或者

所述激光扫平仪接收所述探测器基于所述第一位置信息和所述第二位置信息生成的所述校准信息，在所述校准信息超过阈值的情况下，基于所述校准信息进行校准。

根据本发明的一个示例性的实施例，所述方法还包括：所述探测器基于所述第一位置信息和所述第二位置信息生成校准信息，在所述校准信息超过阈值的情况下，将所述校准信息发送到所述激光扫平仪，使得所述激光扫平仪基于所述校准信息进行校准。

根据本发明的一个示例性的实施例，所述方法还包括：

在所述激光扫平仪准备向所述探测器发射所述用于校准的激光射线之前，对所述激光扫平仪进行安平操作；

在所述激光扫平仪旋转到第一旋转角度后，对所述激光扫平仪进行安平操作。

根据本发明的一个示例性的实施例，设置所述激光扫平仪处于打点模式或扇扫模式进一步包括：

设置所述激光扫平仪处于打点模式；

将脉冲信号作用于所述激光扫平仪，使得所述激光扫平仪发射所述用于校准的激光射线，其中，所述用于校准的激光射线的频率与所述脉冲信号的频率相同。