[发明专利]一种基于余数系统的光斑图像处理方法、系统及计算机存储介质有效
申请号: | 202011623598.1 | 申请日: | 2020-12-31 |
公开(公告)号: | CN112614079B | 公开(公告)日: | 2023-06-16 |
发明(设计)人: | 张桓源;李梦男;雷继兆;王海升;彭红攀;郭茂 | 申请(专利权)人: | 东方红卫星移动通信有限公司 |
主分类号: | G06T5/00 | 分类号: | G06T5/00 |
代理公司: | 重庆双马智翔专利代理事务所(普通合伙) 50241 | 代理人: | 顾晓玲 |
地址: | 401120 重庆*** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 余数 系统 光斑 图像 处理 方法 计算机 存储 介质 | ||
1.一种基于余数系统的光斑图像处理方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1,使用光斑图像数据在二进制数值系统下进行光斑图像处理,根据处理过程中最大数据动态范围M选择余数基,使余数基的乘积大于所述最大数据动态范围M;
具体为:
在二进数值系统下,对大小为n×q的光斑图像进行质心算法,得到该光斑的最大数据动态范围M,n和q均为正整数;
根据所述最大数据动态范围M选择对应的余数基m1,m2,m3,…mL,其中m1,m2,m3,…mL两两互质且M≤m1×m2×m3×…×mL;
S2,根据所选择余数基设计前向转换模块、模运算模块,根据中国余数定理设计后向转换模块;
S3,计算当前光斑的非均匀校正系数;
非均匀校正系数的计算公式为:
非均匀校正系数非均匀校正系数其中,为用强度为L1的均匀光照射传感器获得该光斑图像的平均响应值,为用强度为L1的均匀光照射传感器获得该光斑图像的每个象元的响应值,为用强度为L2的均匀光照射传感器获得该光斑图像的平均响应值,为用强度为L2的均匀光照射传感器获得该光斑图像的每个象元的响应值;
S4,将非均匀校正系数通过所述前向转换模块转换为对应的余数表示形式;
S5,将原始光斑图像数据通过前向转换模块转换为对应的余数表示形式;
S6,根据余数表示形式的非均匀校正系数和光斑图像数据使用所述模运算模块计算得到校正后的光斑图像数据;
其中,非均匀校正计算公式为Y(i)new=Y(i)×Gi+Oi,其中Gi和Oi为非均匀校正系数,Y(i)为原始光斑图像数据,Y(i)new为校正后的光斑图像数据;
S7,根据步骤S6中得到的光斑图像数据,使用所述模运算模块计算光斑图像的质心坐标;
质心坐标计算公式为:其中,(i,j)为第i行第j列像元的坐标,I(i,j)表示该像元的质量密度,Wm为光斑总能量
S8,将得到的余数系统下的光斑图像质心坐标通过所述后向转换模块转换为二进制数值,得到二进制数值系统下的光斑质心坐标。
2.根据权利要求1所述的基于余数系统的光斑图像处理方法,其特征在于,所述步骤S6中对光斑图像数据进行非均匀校正后,根据疵点位置坐标,使用所述模运算模块对校正后的光斑图像数据进行疵点补偿,得到疵点补偿后的光斑图像数据,然后执行步骤S7。
3.根据权利要求1所述的基于余数系统的光斑图像处理方法,其特征在于,所述步骤S2中的模运算模块包括模加法器、模减法器、模乘法器、模除法器。
4.一种光斑图像处理系统,其特征在于,包括处理器、存储器、通信接口和通信总线,所述处理器、存储器和通信接口通过所述通信总线完成相互间的通信,所述存储器存放至少一可执行指令,所述可执行指令使所述处理器执行如权利要求1至3中任一项所述的光斑图像处理方法对应的操作。
5.一种计算机存储介质,其特征在于,所述存储介质存储有至少一可执行指令,所述可执行指令使处理器执行如权利要求1至3任一项所述的光斑图像处理方法对应的操作。
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