[发明专利]交流接触器测试方法、装置、存储介质及电子设备

权利要求书

1.一种交流接触器测试方法，其特征在于，所述方法包括：

在接收到测试开始指令时，将测试电压调整为预先设置的吸合测试电压下限值；

接通待测交流接触器对应的继电器给所述待测交流接触器供电；

按照第一预设速率提升所述测试电压，实时检测待测交流接触器的触点状态，并在触点状态由分离状态转为吸合状态时记录吸合电压；

当所述测试电压达到预先设置的吸合测试电压上限值时，将所述测试电压调整为预先设置的释放测试电压上限值；

按照第二预设速率降低所述测试电压，实时检测待测交流接触器的触点状态，并在触点状态由吸合状态转为分离状态时记录释放电压；

当所述测试电压达到预先设置的释放测试电压下限值时，完成测试，得到测试结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：

对所述测试结果进行符合性判断；

若所述测试结果通过符合性判断，则判定所述待测交流接触器通过测试；

若所述测试结果未通过符合性判断，则判定所述待测交流接触器未通过测试。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对所述测试结果进行符合性判断，包括：

判断所述测试结果中记录的吸合电压是否小于143V交流电压，且大于44V交流电压；判断所述测试结果中记录的释放电压是否小于132V交流电压，且大于44V交流电压；

若所述测试结果中记录的吸合电压小于143V交流电压，且大于44V交流电压，且所述测试结果中记录的释放电压小于132V交流电压，且大于44V交流电压，则判定所述待测交流接触器通过测试；

若所述测试结果中记录的吸合电压大于或等于143V交流电压，或者小于或等于44V交流电压，和/或所述测试结果中记录的释放电压小于或等于44V交流电压，则判定所述待测交流接触器未通过测试。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待测交流接触器为至少一个待测交流接触器，每个待测交流接触器对应一个继电器。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将测试电压调整为预先设置的吸合测试电压下限值，包括：

通过可编程逻辑控制器PLC变频电源将测试电压调整为预先设置的吸合测试电压下限值。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述测试电压调整为预先设置的释放测试电压上限值，包括：

通过可编程逻辑控制器PLC变频电源将所述测试电压调整为预先设置的释放测试电压上限值。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一预设速率包括：

测试电压提升的时间间隔和每次提升的电压值。

8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第二预设速率包括：

测试电压降低的时间间隔和每次降低的电压值。

9.一种交流接触器测试装置，其特征在于，所述装置包括：

调整单元，用于在接收到测试开始指令时，将测试电压调整为预先设置的吸合测试电压下限值；当所述测试电压达到预先设置的吸合测试电压上限值时，将所述测试电压调整为预先设置的释放测试电压上限值；

供电单元，用于接通待测交流接触器对应的继电器给所述待测交流接触器供电；

检测单元，用于按照第一预设速率提升所述测试电压，实时检测待测交流接触器的触点状态，并在触点状态由分离状态转为吸合状态时记录吸合电压；按照第二预设速率降低所述测试电压，实时检测待测交流接触器的触点状态，并在触点状态由吸合状态转为分离状态时记录释放电压；当所述测试电压达到预先设置的释放测试电压下限值时，完成测试，得到测试结果。

10.一种存储介质，其特征在于，该存储介质存储的计算机程序，可被一个或多个处理器执行，可用来实现如权利要求1～8任意一项所述的交流接触器测试方法。

11.一种电子设备，其特征在于，包括存储器和处理器，所述存储器上存储有计算机程序，所述存储器和所述处理器之间互相通信连接，该计算机程序被所述处理器执行时，执行如权利要求1～8任意一项所述的交流接触器测试的方法。