[发明专利]用于校准激光扫平仪的方法在审
申请号: | 202011624564.4 | 申请日: | 2020-12-31 |
公开(公告)号: | CN112611396A | 公开(公告)日: | 2021-04-06 |
发明(设计)人: | 王伟臣;石昕;邢星 | 申请(专利权)人: | 上海诺司纬光电仪器有限公司;美国西北仪器公司 |
主分类号: | G01C25/00 | 分类号: | G01C25/00;G01C15/00 |
代理公司: | 北京永新同创知识产权代理有限公司 11376 | 代理人: | 杨胜军 |
地址: | 201707 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 校准 激光 扫平 方法 | ||
1.一种用于校准激光扫平仪的方法,其特征在于,所述方法包括:
激光扫平仪向接收单元发射激光,获取并记录所述接收单元上所接收的第一激光位置;
将所述激光扫平仪沿竖直轴线水平旋转180度,获取所述激光扫平仪中的水平度传感器的第一检测值;
调节所述激光扫平仪发射的激光的坡度,使得所述接收单元上的激光位于所述第一激光位置,获取所述激光扫平仪中的水平度传感器的第二检测值;以及
基于所述第一检测值和所述第二检测值确定是否需要对所述激光扫平仪进行校准。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述接收单元包括激光探测器、靶板、电子靶、标尺、用户界面、墙面中的任意一种。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
所述激光扫平仪向接收单元发射激光前,先对所述激光扫平仪进行安平;以及
在获取所述激光扫平仪中的水平度传感器的第一检测值、第二检测值前,先分别对所述激光扫平仪进行安平。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,基于所述第一检测值和所述第二检测值确定是否需要对所述激光扫平仪进行校准进一步包括:
基于所述第一检测值和所述第二检测值确定第一实际误差值;
将所述实际误差值和第一误差门限值进行比较,以确定是否需要对所述激光扫平仪进行校准。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述第一实际误差值为所述第一检测值和所述第二检测值之差的一半。
6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,在需要对所述激光扫平仪进行校准的情况下,以所述第一实际误差值对所述激光扫平仪进行校准。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
提供激光扫平仪和接收单元,其中,所述激光扫平仪和所述接收单元相距第一距离。
8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,将所述激光扫平仪沿竖直轴线水平旋转进一步包括:
借助于支撑所述激光扫平仪的底座来旋转所述激光扫平仪。
9.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
将所述激光扫平仪沿竖直轴线水平旋转90度,获取并记录所述接收单元上所接收的第二激光位置;
将所述激光扫平仪沿竖直轴线水平再旋转180度,获取所述激光扫平仪中的水平度传感器的第三检测值;
调节所述激光扫平仪发射的激光的坡度,使得所述接收单元上的激光位于所述第二激光位置,获取所述激光扫平仪中的水平度传感器的第四检测值;以及
基于所述第三检测值和所述第四检测值确定是否需要对所述激光扫平仪进行校准。
10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,基于所述第三检测值和所述第四检测值确定是否需要对所述激光扫平仪进行校准进一步包括:
基于所述第三检测值和所述第四检测值确定第二实际误差值;
将所述第二实际误差值和第二误差门限值进行比较,以确定是否需要对所述激光扫平仪进行校准。
11.根据权利要求10所述的方法,其特征在于,所述第二误差门限值和所述第一误差门限值相等。
12.根据权利要求10所述的方法,其特征在于,在需要对所述激光扫平仪进行校准的情况下,以所述第二实际误差值对所述激光扫平仪进行校准。
13.根据权利要求10所述的方法,其特征在于,所述第二实际误差值为所述第三检测值和所述第四检测值之差的一半。
14.根据权利要求10所述的方法,其特征在于,将所述激光扫平仪沿竖直轴线水平旋转进一步包括:
借助于支撑所述激光扫平仪的底座来旋转所述激光扫平仪。
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