[发明专利]电极帽使用率评估方法、系统、装置及存储介质

权利要求书

1.一种电极帽使用率评估方法，其特征在于，包括：

获取电极帽的更换后的点焊次数、更换后的修磨次数、平均修磨次数、平均点焊次数及最大点焊次数；

当所述更换后的点焊次数小于所述平均点焊次数，且所述更换后的修磨次数小于所述平均修磨次数，确定所述电极帽使用率低；

当所述更换后的点焊次数大于所述平均点焊次数且所述更换后的修磨次数小于所述平均修磨次数，确定所述电极帽使用率不充分；

当所述更换后的点焊次数大于最大点焊次数或所述更换后的修磨次数大于所述平均修磨次数，确定所述电极帽使用率高。

2.根据权利要求1所述的电极帽使用率评估方法，其特征在于，所述方法还包括：

根据所述最大点焊次数与所述更换后的点焊次数的差值确定所述电极帽的损失点焊次数。

3.根据权利要求2所述的电极帽使用率评估方法，其特征在于，所述方法还包括：

根据所述损失点焊次数与所述最大点焊次数的比值确定所述电极帽的浪费数量。

4.根据权利要求3所述的电极帽使用率评估方法，其特征在于，所述方法还包括：

获取所述电极帽的使用总数量；

根据所述浪费数量与所述使用总数量的比值确定所述电极帽的平均浪费数量。

5.根据权利要求1-4任一项所述的电极帽使用率评估方法，其特征在于，所述方法还包括：

展示所述电极帽的评估结果，其中，所述评估结果至少包括所述电极帽的使用率。

6.一种电极帽使用率评估系统，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取电极帽的更换后的点焊次数、更换后的修磨次数、平均修磨次数、平均点焊次数及最大点焊次数；

第一评估模块，用于当所述更换后的点焊次数小于所述平均点焊次数，且所述更换后的修磨次数小于所述平均修磨次数，确定所述电极帽使用率低；

第二评估模块，用于当所述更换后的点焊次数大于所述平均点焊次数且所述更换后的修磨次数小于所述平均修磨次数，确定所述电极帽使用率不充分；

第三评估模块，用于当所述更换后的点焊次数大于最大点焊次数或所述更换后的修磨次数大于所述平均修磨次数，确定所述电极帽使用率高。

7.一种电极帽使用率评估装置，其特征在于，包括：

至少一个处理器；

至少一个存储器，用于存储至少一个程序；

当所述至少一个程序被所述至少一个处理器执行，使得所述至少一个处理器实现如权利要求1-5任一项所述的电极帽使用率评估方法。

8.一种存储介质，其中存储有处理器可执行的程序，其特征在于，所述处理器可执行的程序在由处理器执行时用于执行如权利要求1-5任一项所述的电极帽使用率评估方法。

9.一种电极帽使用率评估系统，其特征在于，包括采集器以及与所述采集器连接的服务器；其中，

所述采集器，用于采集电极帽的点焊次数及修磨次数；

所述服务器包括：

至少一个处理器；

至少一个存储器，用于存储至少一个程序；

当所述至少一个程序被所述至少一个处理器执行，使得所述至少一个处理器实现如权利要求1-5任一项所述的电极帽使用率评估方法。

10.根据权利要求9所述的电极帽使用率评估系统，其特征在于，所述系统还包括客户端，所述客户端与所述服务器连接，所述客户端用于展示所述电极帽的评估结果。