[发明专利]一种用于光通信器件测试的一体化测试系统及方法在审
申请号: | 202011629951.7 | 申请日: | 2020-12-31 |
公开(公告)号: | CN112636822A | 公开(公告)日: | 2021-04-09 |
发明(设计)人: | 刘利平;袁佳鑫;王正伍 | 申请(专利权)人: | 深圳市宸平信息技术有限公司 |
主分类号: | H04B10/075 | 分类号: | H04B10/075 |
代理公司: | 深圳市科冠知识产权代理有限公司 44355 | 代理人: | 王久明 |
地址: | 518000 广东省深圳市宝安区*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 光通信 器件 测试 一体化 系统 方法 | ||
1.一种用于光通信器件测试的一体化测试系统,其特征在于,包括:点测光源、扫描光源、偏振控制器、分路器、主光路盒及第一测试光路盒;所述扫描光源与所述偏振控制器之间进行电信号及光信号连接,所述偏振控制器与所述分路器之间进行电信号及光信号连接;所述分路器与所述主光路盒之间进行电信号及光信号连接;所述点测光源与所述主光路盒进行电信号及光信号连接;所述主光路盒及所述第一测试光路盒之间进行光信号及电信号连接,所述第一测试光路盒用于与第一被测设备的输出通道进行光信号连接。
2.根据权利要求1所述的一种用于光通信器件测试的一体化测试系统,其特征在于,所述用于光通信器件测试的一体化测试系统还包括第二测试光路盒;所述主光路盒及所述第二测试光路盒之间进行光信号及电信号连接;所述第二测试光路盒用于与所述第一被测设备的输出通道进行光信号及电信号连接。
3.根据权利要求1所述的一种用于光通信器件测试的一体化测试系统,其特征在于,所述主光路盒包括第一光开关、第二光开关、第三光开关、第一耦合器及第一功率计;所述第一光开关与所述分路器之间进行电信号及光信号连接,所述第一光开关与所述点测光源之间进行电信号及光信号连接,所述第一光开关与所述第二光开关之间进行电信号及光信号连接,所述第二光开关与所述第一测试光路盒之间进行电信号及光信号连接,所述第二光开关与所述第二测试光路盒之间进行电信号及光信号连接,所述第一耦合器与所述第二光开关之间进行电信号及光信号连接,所述第一功率计与所述第一耦合器之间进行电信号及光信号连接,所述第三光开关与所述第一耦合器进行电信号及光信号连接,所述第一被测设备的输入端与所述第三光开关之间进行电信号与光信号连接。
4.根据权利要求1所述的一种用于光通信器件测试的一体化测试系统,其特征在于,所述第一测试光路盒包括第四光开关、第二功率计及第一耦合开关单元;所述第四光开关与所述主光路盒之间进行电信号及光信号连接,所述第二功率计与所述第四光开关之间进行电信号及光信号连接,所述第一耦合开关单元与所述第四光开关进行电信号及光信号连接,所述第一耦合开关单元与所述第二功率计进行电信号及光信号连接,所述第一耦合开关单元与所述第一被测设备的第一输出通道进行电信号及光信号连接。
5.根据权利要求4所述的一种用于光通信器件测试的一体化测试系统,其特征在于,所述第一测试光路盒还包括第三功率计及第二耦合开关单元;所述第三功率计与所述第四光开关之间进行电信号与光信号连接,所述的第二耦合开关单元与所述第四开关之间进行电信号及光信号连接,所述第二耦合开关单元与所述第三功率计进行电信号及光信号连接,所述第二耦合开关单元与所述第一被测设备的第二输出通道进行电信号及光信号连接。
6.根据权利要求1所述的一种用于光通信器件测试的一体化测试系统,其特征在于,所述主光路盒包括第一机箱,所述第一机箱顶部两边各自设置有第一提手,所述第一机箱一侧表面设置散热风扇;所述第一机箱另一侧表面还设置有第一电源开关及至少一个第一接线端子,所述第一接线端子用于实现所述主光路盒与所述第一测试光路盒的电信号及光信号连接。
7.根据权利要求1所述的一种用于光通信器件测试的一体化测试系统,其特征在于,所述第一测试光路盒包括第二机箱,所述第二机箱顶部设置有第二提手,所述第二机箱一侧表面设置有散热风扇;所述第二机箱另一侧表面还设置有第二电源开关、第二接线端子及至少一个第三接线端子,所述第二接线端子用于接收所述主光路盒的输入信号,所述第三接线端子用于实现所述第一测试光路盒与所述第一被测设备的电信号及光信号连接。
8.一种用于光通信器件测试的一体化测试方法,其特征在于,根据权利要求1-7任一项所述的一种用于光通信器件测试的一体化测试系统,所述方法包括:
控制所述分路器将所述扫描光源均分到多个测试工位;
分别在多个测试工位中,对光通信器件进行扫描测试及单点测试。
9.一种用于光通信器件测试的一体化测试方法,其特征在于,根据权利要求8所述的一种用于光通信器件测试的一体化测试系统,所述分别多个测试工位中,进行光通信器件的扫描测试及单点测试包括:
在第一测试工位中,控制所述主光路盒切换到所述扫描光源对应的光路通道;
控制所述主光路盒接收所述扫描光源输出的扫描光信号,并将所述扫描光信号传到所述第一被测设备;
控制所述第一测试光路盒接收所述所述第一被测设备多个通道输出的扫描光信号;
分别获取所述主光路盒中功率计的输入光功率参数及所述第一测试光路盒中功率计的输出光功率参数,确定所述第一被测设备的扫描数据;
控制所述主光路盒切换到所述点测光源对应的光路通道;
控制所述主光路盒接收所述点测光源输出的单点光信号,并将并将所述单点光信号传到所述第一被测设备;
控制所述第一测试光路盒接收所述所述第一被测设备多个通道输出的单点光信号;
分别获取所述主光路盒中功率计的输入光功率参数及所述第一测试光路盒中所述第一被测设备多个输出通道中对应功率计的输出光功率参数,确定所述第一被测设备的通道回波损耗数据及方向性数据;
控制所述第一测试光路盒接收所述所述第一被测设备输入端的单点光信号后返回所述主光路盒,
分别获取所述主光路盒中功率计的输入光功率参数及所述第一测试光路盒中所述第一被测设备输入通道对应功率计的输出光功率参数,确定所述第一被测设备输入端的回波损耗数据。
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