[发明专利]一种β射线法大气颗粒浓度测量仪校准用标准质量膜片及其制作方法

说明书

本发明公开了一种β射线法大气颗粒浓度测量仪校准用标准质量膜片及其制作方法，用第一空白滤膜在采样点进行采样，测量完成后计算ln(I₀/I)的值以及第一空白滤膜截留颗粒物后的质量；用第二空白滤膜得到初始测定的β射线量I₁；将光学聚酯薄膜设置在第二空白滤膜上；利用结构A得到测定的β射线量I₂，计算ln(I₁/I₂)的值；利用ln(I₀/I)的值和ln(I₁/I₂)的值判断所用的光学聚酯薄膜能否作为与第一空白滤膜采样后等效质量的校准用标准质量膜片；如果判断不能，对光学聚酯薄膜进行处理，直至所用的光学聚酯薄膜能够作为校准用标准质量膜片，将所用的光学聚酯薄膜取下。本发明能够在本地采用实验相结合，消除了使用其他标准膜片校准时，由于大气中颗粒物的成分状态不同而带来的误差。

技术领域

本发明涉及大气颗粒物浓度检测技术领域，具体涉及一种β射线法大气颗粒浓度测量仪校准用标准质量膜片及其制作方法。

背景技术

在大气颗粒浓度检测领域，常用的方法为光散射法和β射线法，其中由于β射线法具有测量精度更高、测量稳定等优点，常用于国控环境空气质量监测站中大气颗粒物的测量。β射线法依靠射线穿过被测量的富集颗粒时引起变化计算等效浓度，因此必须有一套等效于颗粒物质量的膜片来进行前期仪器校准。目前常使用的这类标准膜片只能由国外仪器厂商随仪器配额供给，售价高昂，可采购的数量少，采购不便且时间周期长，严重影响测量工作的工作效率。同时各地由于大气中颗粒物的成分状态不同，采购的标准膜片校准时可能会产生误差。

发明内容

为解决现有技术中存在的问题，本发明的目的在于提供一种β射线法大气颗粒浓度测量仪校准用标准质量膜片及其制作方法，本发明能够在本地采用实验相结合，消除了使用其他标准膜片校准时，由于大气中颗粒物的成分状态不同而带来的误差。

本发明采用的技术方案如下：

一种β射线法大气颗粒浓度测量仪校准用标准质量膜片的制作方法，包括如下步骤：

S1，β射线法大气颗粒浓度测量仪利用第一空白滤膜在采样点进行采样，测量完成后计算ln(I₀/I)的值以及第一空白滤膜截留颗粒物后的质量，其中，I₀为采样前初始测定的β射线量，I为采样后测定的β射线量；

S2，β射线法大气颗粒浓度测量仪利用第二空白滤膜得到初始测定的β射线量I₁；将光学聚酯薄膜设置在第二空白滤膜上，形成结构A；利用结构A得到测定的β射线量I₂，计算ln(I₁/I₂)的值；所述第二空白滤膜和第一空白滤膜相同；

S3，利用ln(I₀/I)的值和ln(I₁/I₂)的值判断所用的光学聚酯薄膜能否作为与第一空白滤膜采样后等效质量的校准用标准质量膜片；

S4，如果判断不能，将结构A上的光学聚酯薄膜取下并用蚀刻液进行蚀刻，将光学聚酯薄膜的厚度逐渐减薄，然后组装成新的结构A并进行测量；

S5，重复S3-S4，直至新的结构A上所用的光学聚酯薄膜能够作为与第一空白滤膜采样后等效质量的校准用标准质量膜片，将所用的光学聚酯薄膜取下。

优选的，在安装第一空白滤膜和第二空白滤膜时，将第一空白滤膜和第二空白滤膜的毛面一侧朝向进气口方向，光学聚酯薄膜设置在第二空白滤膜毛面侧。