[发明专利]一种MOSFET等效阻抗自动测试装置及分选装置有效
申请号: | 202011630619.2 | 申请日: | 2020-12-31 |
公开(公告)号: | CN112798864B | 公开(公告)日: | 2022-03-15 |
发明(设计)人: | 张大成;王婷;张跃 | 申请(专利权)人: | 徐州淮远电子科技有限公司 |
主分类号: | G01R27/02 | 分类号: | G01R27/02;B07C5/344 |
代理公司: | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 | 代理人: | 刘珊珊 |
地址: | 221005 江苏省徐州市鼓楼区大*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 mosfet 等效 阻抗 自动 测试 装置 分选 | ||
1.一种MOSFET等效阻抗自动测试装置,其特征在于,包括工业计算机、硬件控制器、高压发生器、LCR数字电桥、信号切换矩阵、测试夹具;其中,
测试夹具用于连接待测的MOSFET,并提供3对测试端子:测试端子GS和GF连接MOSFET的G极,测试SS和SF连接MOSFET的S极,测试端子DS和DF连接MOSFET的D极;
LCR数字电桥具有两对端子,第一对为Hc和Hp,第二对为Lc和Lp;
工业计算机生成测量不同MOSFET参数的控制指令下发给硬件控制器,并接收LCR数字电桥测得的参数结果,包括:
硬件控制器根据控制指令驱动高压发生器生成相应的偏置电压;
信号切换矩阵作为LCR数字电桥与测试端子之间的选通开关器件,通过检测偏置电压,切换LCR数字电桥的端子与测试端子之间的连接关系,以测试出输入电容Ciss、输出电容Coss、反向传输电容Crss和G极与S极之间的等效串联电阻Rgs;所述信号切换矩阵包括偏置电压检测电路、继电器控制电路及连接在LCR数字电桥端子与测试端子之间的继电器;偏置电压检测电路用于检测高压发生器生成的偏置电压,并生成对应检测结果的电平信号,然后将电平信号反馈至继电器控制电路,触发继电器控制电路驱动相应的继电器吸合或断开,以切换LCR数字电桥的端子与测试端子之间的连接关系;
测量Ciss时,工业计算机向硬件控制器发送测量Ciss命令,硬件控制器控制高压发生器输出设定的偏置电压给信号切换矩阵,信号切换矩阵通过控制内部继电器把Hc与GF相连、Hp与GS相连、Lc与SF相连、Lc与SS相连,工业计算机读取LCR数字电桥的测量值并保存,这个测量值就是Ciss;
测量Coss时,工业计算机向与硬件控制器发送测量Coss命令,硬件控制器控制高压发生器输出设定的偏置电压给信号切换矩阵,信号切换矩阵通过控制内部继电器把Hc与DF耦合相连、Hp与DS耦合相连、Lc与SF相连、Lp与SS相连,GF与SF相连、GS与SS相连,工业计算机读取LCR数字电桥的测量值并保存,这个测量值就是Coss;
测量Crss时,工业计算机向与硬件控制器发送测量Crss命令,硬件控制器控制高压发生器输出设定的偏置电压给信号切换矩阵,信号切换矩阵通过控制内部继电器把Hc与DF耦合相连、Hp与DS耦合相连、Lc与GF相连、Lp与GS相连,工业计算机读取LCR数字电桥测量值并保存,测量的电容分量值即为Crss;
测量Rgs时,工业计算机向硬件控制器发送测量Rgs命令,硬件控制器控制高压发生器输出设定的偏置电压给信号切换矩阵,信号切换矩阵通过控制内部继电器把Hc与GF相连、Hp与GS相连、Lc与SF相连、Lc与SS相连,如果配置为DS短路模式则DS与SS相连,DF与SF相连,反之则DS与SS断开、DF与SF断开,工业计算机读取LCR数字电桥测量值并保存,测量的电阻分量值即为Rgs。
2.根据权利要求1所述的一种MOSFET等效阻抗自动测试装置,其特征在于,所述工业计算机通过通讯总线连接硬件控制器和LCR数字电桥。
3.根据权利要求1所述的一种MOSFET等效阻抗自动测试装置,其特征在于,所述工业计算机还通过配置LCR数字电桥的内部参数,实现不同器件的测量。
4.一种分选装置,用于基于MOSFET等效阻抗测试结果分选出不合格的MOSFET,其特征在于,包括分选机和权利要求1至3任意一项所述的MOSFET等效阻抗自动测试装置;其中,测试夹具安装在分选机上,连接分选机抓取的MOSFET;工业计算机内设置对应不同MOSFET参数的良品指标并存储有用于实现次品分选的计算机程序,当所述计算机程序被执行时,工业计算机将LCR数字电桥的测量结果与相应良品指标对于,当测量结果不符合良品指标时,判定当前测试的MOSFET为次品,并通过硬件控制器发送一个次品判决信号给分选机。
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