[发明专利]金检机及金检机发射模块在审
申请号: | 202011633822.5 | 申请日: | 2020-12-31 |
公开(公告)号: | CN112612062A | 公开(公告)日: | 2021-04-06 |
发明(设计)人: | 殷星;牟翔;施利辉;幸波 | 申请(专利权)人: | 上海太易检测技术有限公司 |
主分类号: | G01V3/11 | 分类号: | G01V3/11 |
代理公司: | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人: | 蔡彭君 |
地址: | 200237 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 金检机 发射 模块 | ||
本发明涉及一种金检机及金检机发射模块,其中金检机包括第一驱动电路、发射线圈和第一接收线圈、第二接收线圈,金检机还包括第一屏蔽线圈和第二屏蔽线圈,第一屏蔽线圈、第一接收线圈、发射线圈、第二接收线圈和第二屏蔽线圈依次排列,发射线圈、第一屏蔽线圈和第二屏蔽线圈均连接至第一驱动电路,且第一屏蔽线圈和第二屏蔽线圈中的电流方向相同,并均与发射线圈中的电流方向相反,其中,电流方向为顺时针或逆时针方向。与现有技术相比,本发明通过设计了两个屏蔽线圈,分别位于两个接收线圈之外,并且两个屏蔽线圈的磁场方向与发射线圈的磁场方向相反,从而可以抵消发射线圈的磁场,减小金属区,进而便于小型化使金检机产线的布局更加紧凑。
技术领域
本发明涉及金属检测机,尤其是涉及一种金检机及金检机发射模块。
背景技术
金属检测机在工作时,驱动电路驱动发射线圈在产品通过窗口产生稳定的电磁场,通过接收线圈探测电磁场的变化情况,当有物体通过这一区域时,由于物体的导磁性和导电性的影响,电磁场分布将发生变化,这一变化被接收线圈探测到后,经后续电路处理后可以作为是否存在金属异物的判定依据。
一般情况下,为了提升机器的检测灵敏度,会适当增加驱动功率和频率,但是在某些场地狭小的场景下,金属检测机与其排除装置或其他机器安装距离非常接近,产生了干扰信号,最终导致了金检机的运行状态不稳定或误报警的状态。
发明内容
本申请发明人发现,发射线圈产生的磁场不会完全被封闭在产品通过窗口内,而在产品通过窗口周围依然存在磁场强度较强的磁场,磁场会受探头周围物体运动或空间电磁干扰而产生机器运行状态不稳定或误报警的状态,严重影响机器使用。发明人将在产品通过窗口外,依然受金属运动干扰的区域就称为金属区。金属区的大小制约了金检机的小型化以及金检机产线的布局。本发明的目的就是为了提供一种金检机及金检机发射模块,通过设计了两个屏蔽线圈,分别位于两个接收线圈之外,并且两个屏蔽线圈的磁场方向与发射线圈的磁场方向相反,从而可以抵消发射线圈的磁场,减小金属区,进而便于小型化使金检机产线的布局更加紧凑。
本发明的目的可以通过以下技术方案来实现:
一种金检机,包括第一驱动电路、发射线圈和第一接收线圈、第二接收线圈,所述金检机还包括第一屏蔽线圈和第二屏蔽线圈,所述第一屏蔽线圈、第一接收线圈、发射线圈、第二接收线圈和第二屏蔽线圈依次排列,所述发射线圈、第一屏蔽线圈和第二屏蔽线圈均连接至第一驱动电路,且第一屏蔽线圈和第二屏蔽线圈中的电流方向相同,并均与发射线圈中的电流方向相反,其中,所述电流方向为顺时针或逆时针方向。
所述第一驱动电路包括主电路和发射变压器,所述发射变压器包括原边线圈、第一副边线圈、第二副边线圈和第三副边线圈,所述第一副边线圈、第二副边线圈和第三副边线圈,所述第二副边线圈与发射线圈连接,所述第一副边线圈与第一屏蔽线圈连接,所述第三副边线圈与第二屏蔽线圈连接,且所述第一副边线圈和第三副边线圈的绕线方向相同,并均与第二副边线圈的绕线方向相反,且第一屏蔽线圈、原边线圈和第二屏蔽线圈的绕线方向相同。
所述第一驱动电路包括主电路和发射变压器,所述发射变压器包括原边线圈、第一副边线圈、第二副边线圈和第三副边线圈,所述第一副边线圈、第二副边线圈和第三副边线圈,所述第二副边线圈与发射线圈连接,所述第一副边线圈与第一屏蔽线圈连接,所述第三副边线圈与第二屏蔽线圈连接,且所述第一副边线圈、第二副边线圈和第三副边线圈的绕线方向相同,且第一屏蔽线圈和第二屏蔽线圈的绕线方向相同,并均与原边线圈的绕线方向相反。
所述第一副边线圈和第三副边线圈的匝数相同,且小于第二副边线圈的匝数。
一种金检机发射模块,包括第一驱动电路、发射线圈、第一屏蔽线圈和第二屏蔽线圈,所述第一屏蔽线圈、发射线圈和第二屏蔽线圈依次排列,所述发射线圈、第一屏蔽线圈和第二屏蔽线圈均连接至第一驱动电路,且第一屏蔽线圈和第二屏蔽线圈中的电流方向相同,并均与发射线圈中的电流方向相反,其中,所述电流方向为顺时针或逆时针方向。
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