[发明专利]一种系列2,3-二取代丁二酰亚胺镧或钆混配配合物及其制备方法和应用有效

专利信息
申请号: 202011639496.9 申请日: 2020-12-31
公开(公告)号: CN112778353B 公开(公告)日: 2022-05-20
发明(设计)人: 陶弦;沈应中;沈克成 申请(专利权)人: 江苏爱姆欧光电材料有限公司
主分类号: C07F7/10 分类号: C07F7/10;C23C16/40;C23C16/455
代理公司: 南京创略知识产权代理事务所(普通合伙) 32358 代理人: 朱希敏
地址: 212000 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 系列 取代 丁二酰 亚胺 钆混配 配合 及其 制备 方法 应用
【说明书】:

发明公开一种系列2,3‑二取代丁二酰亚胺镧或钆混配配合物及其制备方法和应用,在惰性气体的保护下,将定量的2,3‑二取代丁二酰亚胺与二胺镧化合物加入无水溶剂中;加入无水溶剂后,反应一段时间后,过滤,将滤液用减压蒸馏除去溶剂和副产物,得灰白色固体;将得到的灰白色固体,经过重结晶升华,得到目标金属配合物。本发明目的是提供一系列对衬底的污染小、合成方法简便,工艺操作简单,产率高,成本低的2,3‑二取代丁二酰亚胺镧混配配合物及其合成方法以及在制备高K材料的应用。此系列前驱体是配体的位阻大而形成单核化合物,具有较好的挥发性和合适的热稳定性,易于合成,毒性低等特点。

技术领域

本发明涉及金属有机配合物技术领域,具体为一种系列2,3-二取代丁二酰亚胺镧或钆混配配合物及其制备方法和应用。

背景技术

对于应用:所合成的2,3-二取代丁二酰亚胺镧(锆)混配配合物是一种新的配合物,所以还没有把它作为前驱体制备高K薄膜材料的报道。

随着微电子技术的快速发展,器件的特征尺寸越来越小,从大规模集成电路发展到极大规模集成电路。当器件特征尺寸位于45nm以下技术节点时,传统的栅介质材料SiO2已经不能满足要求,需要由介电常数更大的高K材料替代SiO2。近几年,研究最多的三种高K材料是ZrO2(k=25),HfO2(k=25)和Al2O3(k=9)(L,J,et al.phys.stat.sol.(a),2004,201(7):1443~1452.)。除此之外,稀土氧化物由于具有很高的稳定性和优异的电学性能,也是一种非常有前景的高K材料(M,Ritala M.J.Solid State Chem.,2003,171(1-2):170-174.)。

原子层沉积技术(ALD)是近年来发展起来的薄膜沉积技术,寻找适合于ALD技术的前驱体是关键。对一个理想的ALD前驱体,必须满足两个基本的要求。

(1)足够的挥发性:①配体的位阻大,防止多聚;②没有溶剂配位的单核配合物;③分子极性低,分子间引力小。

(2)适当的反应性:①在沉积温度范围内,不能自身分解;②对氧源(一般为H2O)有很高的反应活性;③前驱体必须可以与基底发生吸附或反应,且不会腐蚀基底。

目前研究较多的氧化物的ALD前驱体,可以分为六大类:烷氧基化合物、β-二酮化合物、有机胺化物和金属有机化合物(环戊二烯型化合物),脒基配合物,胍基配合物。

因此,我们设计了一种系列2,3-二取代丁二酰亚胺镧或钆混配配合物。

发明内容

针对现有技术的不足,本发明提供了一种系列2,3-二取代丁二酰亚胺镧或钆混配配合物及其制备方法和应用,目的是提供一系列对衬底的污染小、合成方法简便,工艺操作简单,产率高,成本低的2,3-二取代丁二酰亚胺镧混配配合物及其合成方法以及在制备高K材料的应用。此系列前驱体是配体的位阻大而形成单核化合物,具有较好的挥发性和合适的热稳定性,易于合成,毒性低等特点。

为了达到上述目的,本发明所采用的技术方案是:

一种系列2,3-二取代丁二酰亚胺镧或钆混配配合物,技术路径为,

其中:

M=La,Gd

n=1,2

R1=H,CH3,CH2CH3

R2=H,CH3,CH2CH3

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