[发明专利]芯片测试方法、装置、存储介质及设备

说明书

本发明一个或多个实施例公开了一种芯片测试方法、装置、存储介质及设备，该方法包括：根据待测试芯片获取第一测试文件，其中，所述第一测试文件为可执行文件；根据所述待测试芯片从预设的多个测试定义文件中选择目标测试定义文件，其中，所述测试定义文件中包括测试参数；获取所述目标测试定义文件；将所述第一测试文件与所述目标测试定义文件结合，得到第二测试文件；根据所述第二测试文件对所述待测试芯片进行测试，得到所述待测试芯片的测试结果，该方法可有效缩短芯片测试周期。

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，尤其涉及一种芯片测试方法、装置、存储介质及设备。

背景技术

随着半导体芯片制造工艺的不断发展，单位面积硅基半导体芯片上晶体管的数量不断增加，改善工艺、提升良率势在必行，而基于ATE平台的芯片测试成为指导良率提升和寻找工艺薄弱环节的有利工具。随着SoC(System-on-a-Chip，系统级芯片，也称片上系统)集成度和复杂度的提升，开发测试程序的时间周期在不断增加，测试难度也在不断增强。对于新产品的开发以及导入量产都造成了很大的时间损失。在半导体芯片测试领域，ATE(Automatic Test Equipment，自动化测试设备)是用来为测试芯片提供测试模式，分析芯片对测试模式的响应来检测芯片是否符合预期的测试系统。在半导体芯片测试领域，各类主流芯片的测试基本是基于ATE实现的。ATE本身是可编程的自动化测试机台，可灵活通过设定不同的timing(时序)、level(电平)、rate(频率)、wave kind(波形)、drive kind(驱动类型)等实现各种测试逻辑信号和判断。因而，ATE测试程序开发在整个半导体芯片测试领域显得尤为重要。

目前，即便是同一个系列的芯片，针对不同型号和规格的芯片的更新，相应的ATE测试程序需要不断更新以满足新的测试需求。这就导致需不断开发新的ATE测试程序，延长了芯片的测试周期。

发明内容

有鉴于此，本发明一个或多个实施例提供一种芯片测试方法、装置、存储介质及设备，可有效缩短芯片测试周期。

本发明一个或多个实施例提供了一种芯片测试方法，包括：根据待测试芯片获取第一测试文件，其中，所述第一测试文件为可执行文件；根据所述待测试芯片从预设的多个测试定义文件中选择目标测试定义文件，其中，所述测试定义文件中包括测试参数；获取所述目标测试定义文件；将所述第一测试文件与所述目标测试定义文件结合，得到第二测试文件；根据所述第二测试文件对所述待测试芯片进行测试，得到所述待测试芯片的测试结果。

可选的，所述方法还包括：在根据待测试芯片获取第一测试文件之前，获取多个不同的待测试芯片的产品定义参数；根据所述产品定义参数生成所述多个测试定义文件；将所述多个测试定义文件存储至目标设备；将所述目标设备的存储器共享给测试机台，其中，所述测试机台用于对所述待测试芯片进行测试。

可选的，所述测试机台中存储有所述第一测试文件，获取所述目标测试定义文件，包括：通过所述测试机台从所述存储器中读取所述目标测试定义文件。

可选的，所述测试定义文件接口中定义了所述待测试芯片与所述目标测试定义文件之间的对应关系，根据所述待测试芯片从预设的多个测试定义文件中选择目标测试定义文件，包括：根据所述对应关系从所述多个测试定义文件中选择与所述待测试芯片对应的所述目标测试定义文件。可选的，所述测试定义文件中还包括：待测试芯片的属性参数以及测试参数的数值范围。

本发明一个或多个实施例提供了一种芯片测试装置，包括：第一获取模块，被配置为根据待测试芯片获取第一测试文件，其中，所述第一测试文件为可执行文件；选择模块，被配置为根据所述待测试芯片从预设的多个测试定义文件中选择目标测试定义文件，其中，所述测试定义文件中包括测试参数；第二获取模块，被配置为获取所述目标测试定义文件；结合模块，被配置为将所述第一测试文件与所述目标测试定义文件结合，得到第二测试文件；测试模块，被配置为根据所述第二测试文件对所述待测试芯片进行测试，得到所述待测试芯片的测试结果。