[发明专利]一种控制系统信号概率的组合电路可靠性评估方法

说明书

本发明公开了一种控制系统信号概率的组合电路可靠性评估方法。该方法包括向电路施加输入向量，模拟得到电路中各节点的正常输出信号逻辑值；确定电路中每个逻辑门的正确输出概率，基于正常输出概率计算各节点输出为正常输出信号逻辑值的取值概率；基于各取值概率计算电路在输入向量的激励下的可靠度，计算各输入向量下的电路的总可靠度。本发明实现了通过计算在给定输入向量的激励下，组合电路从原始输入至原始输出所有节点信号的正常逻辑取值概率，并结合故障模拟，分析电路受软错误影响时的可靠性，能够简单快速而又准确的计算组合电路在某个特定向量激励下的条件可靠度或若干随机向激励下的平均可靠度。

技术领域

本申请涉及大型复杂系统的可靠性评估技术领域，具体而言，涉及一种控制系统信号概率的组合电路可靠性评估方法。

背景技术

控制系统是大型装置的指挥者和管理者，控制系统是由很多集成电路组成，超大规模集成(Very Large-Scale Integrated,VLSI)电路技术是现代电子信息技术的重要组成部分，对科学技术、国民经济和国防建设的发展起着巨大的推进作用。然而，随着深亚微米及纳米工艺的应用，芯片的集成度不断提高，集成结构对辐射越来越敏感，因高能粒子轰击而引发的软错误会严重影响电路的可靠性。

随着CMOS晶体管缩小到纳米级尺寸，电路的集成度急剧升高，造成软错误的概率也将增大，进而导致纳米级晶体管构建的电路失效率升高。而电路设计人员在电路设计阶段也无法较为准确的评估和比较不同电路的可靠性。

发明内容

为了解决上述问题，本申请实施例提供了一种控制系统信号概率的组合电路可靠性评估方法。

第一方面，本申请实施例提供了一种控制系统信号概率的组合电路可靠性评估方法，所述方法包括：

向电路施加输入向量，模拟得到所述电路中各节点的正常输出信号逻辑值；

确定所述电路中每个逻辑门的正确输出概率，基于所述正常输出概率计算各所述节点输出为所述正常输出信号逻辑值的取值概率；

基于各所述取值概率计算所述电路在所述输入向量的激励下的可靠度，计算各所述输入向量下的所述电路的总可靠度。

优选的，所述基于所述正常输出概率计算各所述节点输出为所述正常输出信号逻辑值的取值概率，包括：

基于所述正常输出概率，按照电路网表文件中的节点标号顺序依次计算各所述节点输出为所述正常输出信号逻辑值的取值概率。

优选的，所述按照电路网表文件中的节点标号顺序依次计算各所述节点输出为所述正常输出信号逻辑值的取值概率，包括：

获取电路网表文件以及所述输入向量，按照所述电路网表文件中的标号依次获取所述标号对应的节点；

确定所述节点的取值概率是否已计算，对没有计算的所述节点的取值概率进行计算，直至所有所述节点均已计算。

优选的，所述对没有计算的所述节点的取值概率进行计算之前，还包括：

确认没有计算的所述节点的所有前驱动节点的取值概率是否均已计算；

若均已计算，则执行所述对没有计算的所述节点的取值概率进行计算的步骤；

若未均已计算，则不对没有计算的所述节点的取值概率进行计算。

优选的，所述对没有计算的所述节点的取值概率进行计算之后，还包括：

若在所述输入向量下，所述没有计算的所述节点的取值概率无法计算，则跳过此次计算。

优选的，所述计算各所述输入向量下的所述电路的总可靠度，包括：

确定所述电路的原始输入数；