[发明专利]板卡测试电路、系统和测试方法

说明书

本申请涉及一种板卡测试电路、系统和测试方法。所述板卡控制电路与所述板卡供电控制电路连接。所述多个通道供电控制电路分别与所述板卡供电控制电路和所述板卡控制电路连接。所述板卡控制电路用于控制所述通道供电控制电路的通断。所述多个板卡通道电路与所述多个通道供电控制电路一一对应连接。所述多个板卡通道电路还分别与所述板卡控制电路连接，所述板卡控制电路用于通过所述通道供电控制电路控制所述板卡通道电路的通断。所述板卡供电控制电路可以根据需要给所述板卡测试电路上电。使用当所述板卡测试电路未被使用时，系统控制电路可以控制所述板卡供电控制电路不上电。所述板卡测试电路处于断电的状态，因此可以节省能耗。

技术领域

本申请涉及测试领域，特别是涉及一种板卡测试电路、系统和测试方法。

背景技术

在半导体器件封装测试中，通常存在同一台机器，针对某一颗器件参数的板卡资源配置，可能存在某些板卡或通道资源没有使用的情况。在实际使用中，由于某些被测试器件批量较小，使得同一台机器需要测试不同类型的器件。由于不同的器件使用的板卡资源不同，使得在同一台机器同时兼顾多种类型器件测试时，板卡或通道资源闲置的情况会更容易出现。但是板卡或者通道一直处于供电的状态，这造成了测试系统的额外能量损耗，并造成了测试系统的整体发热温升影响。

发明内容

基于此，有必要针对上述问题，提供一种板卡测试电路、系统和测试方法。

一种板卡测试电路，包括：

板卡供电控制电路，用于与电源连接；

板卡控制电路，与所述板卡供电控制电路连接；

多个通道供电控制电路，分别与所述板卡供电控制电路和所述板卡控制电路连接，所述板卡控制电路用于控制所述通道供电控制电路的通断；以及

多个板卡通道电路，与所述多个通道供电控制电路一一对应连接，所述多个板卡通道电路还分别与所述板卡控制电路连接，所述板卡控制电路用于通过所述通道供电控制电路控制所述板卡通道电路的通断。

在一个实施例中，所述板卡供电控制电路包括：

隔离驱动电路，用于接收控制信号；

开关切换电路，与所述隔离驱动电路和所述电源连接；以及

滤波电路，与所述开关切换电路和所述通道供电控制电路连接。

在一个实施例中，所述隔离驱动电路包括：

光电二极管输出光电耦电路，所述光电二极管输出光电耦电路用于接收所述控制信号；

软开关电路，与所述光电二极管输出光电耦电路连接，所述软开关电路还与所述开关切换电路连接。

在一个实施例中，所述软开关电路包括第一电容C1、第二电阻R2和第三电阻R3，所述第一电容C1和所述第二电阻R2串联于所述出光电耦合器的两端，所述第三电阻R3串联于所述第一电容C1的两端。所述第二电阻R2的两端与所述开关切换电路连接。

在一个实施例中，所述开关切换电路包括串联的第一场效应管Q1和第二场效应管Q2，所述第一电容C1的第一端均与所述第一场效应管Q1的源极和所述第二场效应管Q2的源极连接，所述第一电容C1的第二端均与所述第一场效应管Q1的栅极和所述第二场效应管Q2的栅极连接；

所述第一场效应管Q1的漏极用于接入所述电源，所述第二场效应管Q2的漏极与所述滤波电路连接。

在一个实施例中，还包括第一支路和第二支路，所述第一支路与所述电源的P1+电源线和所述通道供电控制电路连接，所述第二支路与所述电源的P1-电源线和所述通道供电控制电路连接，所述第一场效应管Q1和所述第二场效应管Q2串联于所述第一支路。

在一个实施例中，所述滤波电路包括：