[发明专利]天线测试系统、天线支撑装置和天线测试方法

说明书

本发明涉及一种天线测试系统、天线支撑装置和天线测试方法，天线支撑装置包括第一支撑架、第二支撑架及对准器件。一方面，对位精准，对位精度可以控制在0.1°以内，在暗室中能满足2G天线、3G天线、4G天线及5G毫米波相控阵天线的远场辐射方向图、增益及波束扫描等指标的测试；另一方面，还可以将第一支撑架与第二支撑件直接放入到暗室中，并可以根据实际测试间距需求来调整第一支撑架与第二支撑架在微波暗室中的放置位置，适应于2G天线、3G天线、4G天线及5G毫米波相控阵天线的测试方法和测试要求，具有灵活摆放，缩短收发天线距离，减小路径损耗等优点，在对5G毫米波相控阵天线的测试过程中，无需增加功率放大器，使得装置结构简化，成本降低。

技术领域

本发明涉及天线测试技术领域，特别是涉及一种天线测试系统、天线支撑装置和天线测试方法。

背景技术

随着通信天线技术的发展，逐步出现了2G天线技术、3G天线技术、4G天线技术及5G天线技术。为了测试天线的各种性能，一般是将待测天线样品与标准天线样品均放置在暗室中，具体例如将待测天线样品安装转动设于暗室中的转台上，将标准天线样品安装在固定设于暗室中的扫描架上，通过固定设置于暗室中的激光对准装置来实现标准天线样品与待测天线样品进行对位，并借助信号源、网络分析仪及频谱仪等测试仪表来实现。

其中，5G毫米波相控阵天线是目前新一代移动通信天线的研究热点，目前主要采用相控阵天线技术。然而，传统的天线测试系统能满足于2G、3G及4G天线测试方法和测试要求，但是并不能满足5G毫米波相控阵天线的指标性能所涉及的测试方法和测试要求。若为了能满足对2G天线、3G天线、4G天线及5G毫米波相控阵天线的测试方法和测试要求，鉴于5G毫米波相控阵天线的工作频率高，路径损耗较大，因此传统的天线测试系统需要额外添加功率放大器对测试信号进行放大处理，这样使得天线测试系统的结构复杂化；此外，传统天线测试系统使用肉眼观察，配合激光笔进行对准的方式精度较低，导致波束扫描的测试精度不高。

发明内容

基于此，有必要克服现有技术的缺陷，提供一种天线测试系统、天线支撑装置和天线测试方法，它能满足对2G天线、3G天线、4G天线及5G毫米波相控阵天线的测试方法和测试要求，同时结构相对简单，成本较低。

其技术方案如下：一种天线支撑装置，所述天线支撑装置包括：第一支撑架，所述第一支撑架包括第一旋转座、第一底板与第一支撑板，所述第一旋转座与所述第一底板相连并用于带动所述第一底板转动，所述第一支撑板位置可调地设置于所述第一底板上；第二支撑架，所述第二支撑架包括第二旋转座、第二底板与第二支撑板，所述第二旋转座与所述第二底板相连并用于带动所述第二底板转动，所述第二支撑板位置可调地设置于所述第二底板上，所述第一支撑板与所述第二支撑板的其中一个用于装设标准天线样品，所述第一支撑板与所述第二支撑板的另一个用于装设待测天线样品；及对准器件，所述对准器件用于装设于所述第一支撑板上，所述第二支撑板上设有第一对位标记，所述对准器件与所述第一对位标记进行对位以使所述第一支撑板与所述第二支撑板相互对位。

上述的天线支撑装置，由于将对准器件装设于第一支撑板上，并通过对准器件与第一对位标记进行对位来实现第一支撑板与第二支撑板相互对位，且第一支撑板与第二支撑板分别能在第一旋转座与第二旋转座的驱动下自由转动。如此，一方面，对位较为精准，对位精度可以控制在0.1°以内，在传统的微波暗室中，能满足2G天线、3G天线、4G天线及5G毫米波相控阵天线的远场辐射方向图、增益及波束扫描等指标的测试；另一方面，还可以将第一支撑架与第二支撑件直接放入到传统的微波暗室中，并可以根据实际测试间距需求来调整第一支撑架与第二支撑架在微波暗室中的放置位置，使得能适应于2G天线、3G天线、4G天线及5G毫米波相控阵天线的测试方法和测试要求，具有灵活摆放，缩短收发天线距离，减小路径损耗等优点，在对5G毫米波相控阵天线的测试过程中，无需增加功率放大器，使得装置结构简化，装置成本大大降低。

在其中一个实施例中，所述第一旋转座通过第一安装件与所述第一底板相连；所述第二旋转座通过第二安装件与所述第二底板相连。