[发明专利]一种用于制造半导体芯片的方法在审
申请号: | 202011643856.2 | 申请日: | 2020-12-31 |
公开(公告)号: | CN112838056A | 公开(公告)日: | 2021-05-25 |
发明(设计)人: | 赵浩;张静;陈博;黎载红 | 申请(专利权)人: | 上海波汇科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/78 | 分类号: | H01L21/78;H01L21/683 |
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地址: | 201613 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 制造 半导体 芯片 方法 | ||
1.一种用于制造半导体芯片的方法,所述方法包括:对半导体衬底进行结构化以产生多个半导体芯片,使得每个半导体芯片包括第一主面和多个侧面,在透光支撑件上涂敷包括光吸收剂和热可分解树脂的光致发热转换层,在所述晶片上的凹凸不平的所述电路图形中填充液体光可固化的粘合剂,在所述晶片上固化所述光可固化的粘合剂形成粘结层,在每个半导体芯片的第一主面与各侧面之间的过渡部位形成凹处,将金属层布置到第二主面上和布置到所述多个侧面上,其中所述金属层不被沉积到所述凹入内的弯曲表面上。
2.根据权利要求1所述的一种用于制造半导体芯片的方法,其特征在于:在切割该研磨的所述半导体晶片之前,芯片键合带被固定到所述半导体晶片。
3.根据权利要求2所述的一种用于制造半导体芯片的方法,其特征在于:所述光致发热转换层包含炭黑和/或透明的填料。
4.根据权利要求1所述的一种用于制造半导体芯片的方法,其特征在于:在真空中执行通过光可固化粘合剂层叠所述半导体晶片和所述透光支撑件。
5.根据权利要求1所述的一种用于制造半导体芯片的方法,其特征在于:所述形成凹入包括执行蚀刻步骤,所述蚀刻步骤包括各向同性蚀刻步骤,对所述半导体衬底进行结构化包括执行蚀刻步骤,所述蚀刻步骤包括各向异性蚀刻步骤。
6.根据权利要求5所述的一种用于制造半导体芯片的方法,其特征在于:所述半导体晶片被研磨至50μm或以下的厚度。
7.根据权利要求1所述的一种用于制造半导体芯片的方法,其特征在于:对所述半导体衬底进行研磨,在对半导体衬底进行结构化之后对所述半导体芯片进行研磨。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造