[发明专利]一种微程序的调试方法及其调试装置

权利要求书

1.一种微程序的调试方法，其特征在于，包括：

确定存储模块中处于闲置状态的存储空间；

初始化所述处于闲置状态的存储空间；

在待调试微程序中确定程序检测点；

在所述待调试微程序的程序检测点处植入检测程序；

依据植入所述检测程序后的待调试微程序，运行处理器的待调试子模块，将程序检测点信息存储到所述存储空间内；

读取所述存储空间内的程序检测点信息。

2.如权利要求1所述的调试方法，其特征在于，还包括：

依据所读取的程序检测点信息，获取所述程序检测点的运行情况信息；

根据所获取的运行情况信息，对所述待调试微程序及所述待调试子模块进行分析。

3.如权利要求2所述的调试方法，其特征在于，所述处理器为中央处理器或图形处理器。

4.如权利要求3所述的调试方法，其特征在于，所述存储模块为所述中央处理器能够访问的寄存器。

5.如权利要求4所述的调试方法，其特征在于，每个程序检测点为事件检测点或程序位置检测点。

6.如权利要求5所述的调试方法，其特征在于，所述在待调试微程序中确定程序检测点包括：在所述待调试微程序中确定N个程序检测点；

所述获取程序检测点的运行情况信息包括：获取所述N个程序检测点中的每个程序检测点是否发生或被运行的信息；

所述将程序检测点信息存储到所述存储空间内包括：

将所述N个程序检测点是否发生或被运行的信息与所述寄存器中的N个比特位建立映射关系；

将所获取的所述N个程序检测点中的每个程序检测点是否发生或被运行的信息存储在所述寄存器中对应的比特位中。

7.如权利要求6所述的调试方法，其特征在于，所述程序检测点的个数N不大于所述待调试子模块中所有处于闲置状态的寄存器的总比特位数。

8.如权利要求6所述的调试方法，其特征在于，所述将所获取的每个程序检测点是否发生或被运行的信息存储在所述寄存器中对应的比特位中包括：

将所述寄存器中的N个比特位初始化为“0”；

判断每个程序检测点是否发生或被运行的信息为未发生或未被运行，则保持该程序检测点对应的比特位继续为“0”；

判断每个程序检测点是否发生或被运行的信息为已发生或已被运行，则在所述寄存器内该程序检测点对应的比特位写入“1”。

9.如权利要求8所述的调试方法，其特征在于，所述读取所述存储空间内的程序检测点信息包括：读取所述寄存器内的N个比特位的数据；

所述根据所获取的运行情况信息，对所述待调试微程序及所述待调试子模块进行分析包括：

根据所述N个比特位的数据，分析应该执行的待调试微程序是否被执行，不应该被执行的待调试微程序是否被执行；

根据分析结果，判断待调试微程序执行情况是否符合微程序设计思想，修改所述待调试微程序。

10.如权利要求5所述的调试方法，其特征在于，所述在待调试微程序中确定程序检测点包括：在所述待调试微程序中确定M个程序检测点；

所述获取程序检测点的运行情况信息包括：获取所述M个程序检测点中的每个程序检测点发生或被运行的频次信息；

所述将程序检测点信息存储到所述存储空间内包括：

将所述寄存器中的H个比特位划分为M个比特位段，每个比特位段包含至少两个相邻的比特位；

将所述M个程序检测点发生或被运行的频次信息与所述M个比特位段建立映射关系；

将所获取的M个程序检测点中的每个程序检测点发生或被运行的频次信息存储在所述寄存器中对应的比特位段中。

11.如权利要求10所述的调试方法，其特征在于，所述程序检测点的个数M不大于所述待调试子模块中所有处于闲置状态的寄存器的总比特位数的二分之一，且H≥2M。