[发明专利]熔解曲线异常值处理方法、装置以及电子设备

说明书

本申请提供了一种熔解曲线异常值处理方法、装置以及电子设备，涉及数据检测技术领域，包括：获取PCR熔解过程中已扩增的荧光强度数据，利用连续小波变换的方式对荧光强度数据进行探测，确定异常值位置，在异常值位置所处的预设邻域范围内，根据可变化窗口值对荧光强度数据进行线性拟合，得到拟合曲线，对拟合曲线进行多项式拟合求导，确定熔解曲线，以缓解无法获得较高精度的熔解曲线的技术问题。

技术领域

本申请涉及数据检测技术领域，尤其是涉及一种熔解曲线异常值处理方法、装置以及电子设备。

背景技术

目前，诊断传染病标准的核酸定量方法多采用荧光实时定量PCR，能够量化样品模板的初始值，常被用在基因分析表达、转基因食物检测和癌症检测中。

但是，目前实际的数据调试中，荧光强度偶尔会出现异常值的情况，现有的方法都无法处理荧光强度变化值即熔解曲线的异常值，难以确定平滑后的熔解曲线，目前的方法无法获得较高精度的熔解曲线。

发明内容

本发明的目的在于提供一种熔解曲线异常值处理方法，以缓解无法获得较高精度的熔解曲线的技术问题。

第一方面，本申请实施例提供了一种熔解曲线异常值处理方法，包括：

获取PCR熔解过程中已扩增的荧光强度数据；

利用连续小波变换的方式对所述荧光强度数据进行探测，确定异常值位置；

在所述异常值位置所处的预设邻域范围内，根据可变化窗口值对所述荧光强度数据进行线性拟合，得到拟合曲线；

对所述拟合曲线进行多项式拟合求导，确定熔解曲线。

结合第一方面，本发明实施例提供了第一方面的第一种可能的实施方式，其中，所述利用连续小波变换的方式对所述荧光强度数据进行探测，确定异常值位置的步骤，包括：

利用连续小波变换的方式对所述荧光强度数据进行探测，得到每个尺度下对应的多个模；

分别确定不同所述尺度下对应的模极大值位置；

判断所述模极大值位置是否在预设层数内；

若所述模极大值位置在所述预设层数内，则将所述模极大值位置确定为荧光强度异常值位置。

结合第一方面，本发明实施例提供了第一方面的第二种可能的实施方式，其中，所述判断所述模极大值位置是否在预设层数内的步骤，包括：

对所述荧光强度数据进行多次探测，得到与多次探测对应的三层模极大值位置；

判断所述模极大值位置是否在预设顺序层数以及连续层数内。

结合第一方面，本发明实施例提供了第一方面的第三种可能的实施方式，其中，所述在所述异常值位置所处的预设邻域范围内，根据可变化窗口值对所述荧光强度数据进行线性拟合，得到拟合曲线的步骤，包括：

在所述异常值位置所处的预设邻域范围内，根据至少两个预设窗口值对所述荧光强度数据进行线性拟合，分别得到与至少两个所述预设窗口值对应的初步拟合曲线；

计算至少两个所述预设窗口值对应的平滑度值，通过对比多个所述平滑度值得到最小平滑度值；

确定与所述最小平滑度值对应的目标预设窗口值；

将所述目标预设窗口值对应的目标初步拟合曲线确定为最终的拟合曲线。

结合第一方面，本发明实施例提供了第一方面的第四种可能的实施方式，其中，所述可变化窗口值为奇数。

结合第一方面，本发明实施例提供了第一方面的第五种可能的实施方式，其中，所述确定异常值位置的步骤，包括：