[发明专利]扩增曲线基线确定方法、装置以及电子设备在审
申请号: | 202011644504.9 | 申请日: | 2020-12-30 |
公开(公告)号: | CN112669910A | 公开(公告)日: | 2021-04-16 |
发明(设计)人: | 李冬;杨智;贺贤汉 | 申请(专利权)人: | 杭州博日科技股份有限公司 |
主分类号: | G16B45/00 | 分类号: | G16B45/00;G16B40/30 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 张萌 |
地址: | 310000 浙江省杭州市*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 扩增 曲线 基线 确定 方法 装置 以及 电子设备 | ||
本申请提供了一种扩增曲线基线确定方法、装置以及电子设备,涉及数据检测技术领域,包括:获取未知样本扩增数据,利用聚类分析法从未知样本扩增数据中确定明显扩增样本和非明显扩增样本,利用线性拟合方法确定明显扩增样本的扩增曲线基线以及最短基线期,基于最短基线期确定非明显扩增样本的扩增曲线基线,以缓解了目前的核酸定量方法无法获得真实的扩增曲线技术问题。
技术领域
本申请涉及数据检测技术领域,尤其是涉及一种扩增曲线基线确定方法、装置以及电子设备。
背景技术
目前,诊断传染病标准的核酸定量方法多采用荧光实时定量PCR,能够量化样品模板的初始值,常被用在基因分析表达、转基因食物检测和癌症检测中。
但是,目前实际的PCR扩增曲线是较为多样的,即使是同一次扩增实验,各孔位的扩增曲线也相差很大,而且,现有的方法都无法消除基线即荧光本底强度的影响,难以确定各未知样本的基线。因此,目前的方法无法获得较高精度的扩增曲线。
发明内容
本发明的目的在于提供一种扩增曲线基线确定方法、装置以及电子设备,以缓解目前无法获得较高精度扩增曲线的技术问题。
第一方面,本申请实施例提供了一种扩增曲线基线确定方法,所述方法包括:
获取未知样本扩增数据,利用聚类分析法从所述未知样本扩增数据中确定明显扩增样本和非明显扩增样本;
利用线性拟合方法确定所述明显扩增样本的扩增曲线基线以及最短基线期;
基于所述最短基线期确定所述非明显扩增样本的扩增曲线基线。
结合第一方面,本发明实施例提供了第一方面的第一种可能的实施方式,其中,所述获取未知样本扩增数据的步骤,包括:
采集未知样本的PCR扩增数据。
结合第一方面,本发明实施例提供了第一方面的第二种可能的实施方式,其中,所述利用聚类分析法从所述未知样本扩增数据中确定明显扩增样本和非明显扩增样本的步骤,包括:
利用Savitzky-Golay求导法和聚类分析法,从所述PCR扩增数据中确定明显扩增样本和非明显扩增样本。
结合第一方面,本发明实施例提供了第一方面的第三种可能的实施方式,其中,所述利用Savitzky-Golay求导法和聚类分析法,从所述PCR扩增数据中确定明显扩增样本和非明显扩增样本的步骤,包括:
利用Savitzky-Golay求导法,确定所述PCR扩增数据的导数曲线,并查找所述导数曲线的极大值点;
基于所述极大值点利用聚类评价指标,从所述PCR扩增数据中确定明显扩增样本和非明显扩增样本,并确定所述明显扩增样本对应的最大一阶导数位置。
结合第一方面,本发明实施例提供了第一方面的第四种可能的实施方式,其中,所述利用线性拟合方法确定所述明显扩增样本的扩增曲线基线以及最短基线期的步骤,包括:
利用线性拟合方法,在所述最大一阶导数位置之前查找所述明显扩增样本的第一斜率最小区域;
按照从所述第一斜率最小区域向两端扩充的方式,查找拟合度达到第一预设值的第一扩增区域以及所述第一扩增区域对应的第一基线;
将原始扩增曲线与所述第一基线进行相减,得到去除基线后的第一扩增曲线;
综合所有所述明显扩增样本的所述第一扩增曲线,确定最短基线期。
结合第一方面,本发明实施例提供了第一方面的第五种可能的实施方式,其中,所述基于所述最短基线期确定所述非明显扩增样本的扩增曲线基线的步骤,包括:
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