[实用新型]一种无痕测试装置

权利要求书

1.一种无痕测试装置，其特征在于，包括：测试板、前板、后板、翻盖和支撑架；

所述测试板包括圆头Pogo pin测试针、PCB板和USB插头；

所述PCB板的一端设置有预设数量的所述圆头Pogo pin测试针；

所述PCB板远离所述圆头Pogo pin测试针的一端连接所述USB插头；

所述前板相对所述圆头Pogo pin测试针的部分设有第一通孔；

所述前板和所述后板相对设置，所述测试板设置于所述前板和所述后板之间，且所述圆头Pogo pin测试针穿过所述第一通孔；

所述前板和所述后板夹紧所述测试板，以将所述测试板固定于所述前板和所述后板之间，形成测试架基板；

所述前板侧壁中部设有第二通孔；

第一插销穿过所述第二通孔，以使所述翻盖固定于所述前板，形成测试架；

所述翻盖一端具有插口，以插拔待测试的存储产品；

所述前板内部的中部相对所述翻盖的一端设置有第一磁铁；

所述翻盖内部的相对所述第一磁铁的部分设有第二磁铁，所述第二磁铁位于所述翻盖内部靠近所述第一磁铁的一端，其中所述第一磁铁和所述第二磁铁磁性相反；

所述前板和所述后板远离所述翻盖的一端分别设有第三通孔和第四通孔，其中，所述第三通孔和所述第四通孔位于同一水平线；

第二插销穿过所述第三通孔，第三插销穿过所述第四通孔，以使所述测试架的两端分别固定于两个相对设置的所述支撑架。

2.根据权利要求1所述的无痕测试装置，其特征在于，所述前板、所述后板和所述翻盖均为可拆卸结构；

所述第一通孔设置于所述前板的一端，且各所述第一通孔均位于同一水平线；

所述前板中部设置有第一螺孔，各所述第一螺孔均位于同一水平线，且所述第一螺孔与所述第一通孔处于不同水平线；

所述前板远离所述第一通孔的一端设有第一凹槽；

所述后板相对所述第一螺孔的部分设置有第二螺孔；

所述后板相对所述第一凹槽的部分设有凹槽，所述凹槽向所述凹槽所在一端的相对端方向延伸，形成第二凹槽；

所述测试板相对所述第一螺孔和所述第二螺孔的部分为半圆形结构；

通过螺接的方式，将所述前板、所述测试板以及所述后板固定，形成所述测试架基板。

3.根据权利要求1所述的无痕测试装置，其特征在于，所述圆头Pogo pin测试针的针尾嵌入所述PCB板。

4.根据权利要求1至3任意一项所述的无痕测试装置，其特征在于，所述翻盖包括插拔部和连接部；

所述连接部固定连接于所述插拔部靠近所述前板的一端；

所述插口位于所述插拔部远离所述连接部的一端，且所述插拔部远离所述连接部的一端设置第三凹槽。

5.根据权利要求4所述的无痕测试装置，其特征在于，所述插口的厚度为2.0毫米。

6.根据权利要求4所述的无痕测试装置，其特征在于，所述第三凹槽设有低摩擦涂层。

7.根据权利要求1至3任意一项所述的无痕测试装置，其特征在于，包括多个测试架；

所述支撑架具有滑槽；

各所述测试架分别滑动设置于所述滑槽，其中，所述滑槽的数量为至少一个。

8.根据权利要求7所述的无痕测试装置，其特征在于，所述第二插销和所述第三插销分别向远离所述支撑架方向延伸，形成裸露于支撑架外部的凸起部；

所述凸起部的轴向横截面积大于所述第二插销和所述第三插销的轴向面积。

9.根据权利要求7所述的无痕测试装置，其特征在于，所述滑槽为凹槽结构；

所述第二插销和所述第三插销相对所述滑槽的部分均套设有轴承。

10.根据权利要求1所述的无痕测试装置，其特征在于，所述第一磁铁和所述第二磁铁均为圆形磁铁。