[实用新型]一种用于集成电路芯片的辐射测试系统

权利要求书

1.一种用于集成电路芯片的辐射测试系统，其特征在于，包括：用于插接待测芯片的测试板、用于向所述待测芯片供电的电源以及PXI数据处理系统，其中所述测试板被布置在测试室中，且所述测试室内还布置有用于辐照所述待测芯片的辐照源；所述电源和所述PXI数据处理系统被布置在控制室中；

所述PXI数据处理系统包括数据采集卡、数字板卡和源测量单元板卡，其中，

所述数据采集卡的输入端与测试板的输出端连接，以采集所述待测芯片产生的测试数据；

所述源测量单元板卡的输入端与所述数据采集卡的输出端连接，以接收来自于所述数据采集卡的测试数据、对所述测试数据进行分析并获得分析结果；

所述数字板卡的输入端与所述数据采集卡的输出端连接，以接收来自于所述数据采集卡的测试数据并进行存储；所述数字板卡的输入端还与所述源测量单元板卡的输出端连接，以接收所述分析结果并进行存储。

2.根据权利要求1所述的辐射测试系统，其特征在于，所述数字板卡与所述测试板连接，以向所述待测芯片提供激励信号。

3.根据权利要求1所述的辐射测试系统，其特征在于，还包括与所述PXI数据处理系统连接的显示器，所述显示器用于显示所述分析结果。

4.根据权利要求1所述的辐射测试系统，其特征在于，所述电源为直流稳压电源。

5.根据权利要求1-4任一项所述的辐射测试系统，其特征在于，所述PXI数据处理系统与所述测试板之间通过数据屏蔽线进行连接。

6.根据权利要求1-4任一项所述的辐射测试系统，其特征在于，还包括辐射防护装置，所述辐射防护装置设置在测试室与控制室之间。

7.根据权利要求6所述的辐射测试系统，其特征在于，所述辐射防护装置为铅制防护罩或铅制防护板。