[实用新型]一种可同时测试多路ADC和多路DAC性能的测试设备有效
| 申请号： | 202020032917.0 | 申请日： | 2020-01-08 |
| 公开（公告）号： | CN210693892U | 公开（公告）日： | 2020-06-05 |
| 发明（设计）人： | 钟国波;胡海涛 | 申请（专利权）人： | 成都智明达电子股份有限公司 |
| 主分类号： | H03M1/10 | 分类号： | H03M1/10 |
| 代理公司： | 北京劲创知识产权代理事务所(普通合伙) 11589 | 代理人： | 徐家升 |
| 地址： | 610031 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 同时 测试 adc dac 性能 设备 | ||
1.一种可同时测试多路ADC和多路DAC性能的测试设备，其特征在于：包括射频模块、频谱仪、网络交换模块、显控模块和信号源，所述显控模块与待测试板卡和所述网络交换模块电连接，所述网络交换模块与所述信号源和所述频谱仪电连接，所述信号源和所述频谱仪均与所述射频模块电连接，所述射频模块与所述测试板卡电连接。
2.根据权利要求1所述的可同时测试多路ADC和多路DAC性能的测试设备，其特征在于：所述射频模块包括功分模块和开关模块，所述功分模块与所述信号源和所述待测试板卡电连接，所述开关模块与所述频谱仪和所述待测试板卡电连接。
3.根据权利要求2所述的可同时测试多路ADC和多路DAC性能的测试设备，其特征在于：所述显控模块通过控制网口与所述网络交换模块电连接，所述网络交换模块通过控制网口与所述信号源和所述频谱仪电连接，所述信号源的模拟信号端与所述功分模块的模拟信号输入端电连接，所述功分模块的多路模拟信号输出端与所述待测试板卡的多路ADC信号输入端电连接，所述频谱仪的射频信号端与所述开关模块的射频信号端电连接，所述开关模块的多路模拟信号输入端与所述待测试板卡的多路DAC信号输出端电连接。
4.根据权利要求3所述的可同时测试多路ADC和多路DAC性能的测试设备，其特征在于：所述显控模块为计算机，所述网络交换模块为网络交换机，所述功分模块为射频功分器，所述开关模块为射频开关，所述待测试板卡为包含ADC和/或DAC的板卡。
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