[实用新型]一种快切太阳能电池片探针排测试工装有效
申请号: | 202020036748.8 | 申请日: | 2020-01-08 |
公开(公告)号: | CN211629041U | 公开(公告)日: | 2020-10-02 |
发明(设计)人: | 周芳超;任鹏翔;包君坚 | 申请(专利权)人: | 横店集团东磁股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66 |
代理公司: | 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 | 代理人: | 尉伟敏 |
地址: | 322118 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 太阳能电池 探针 测试 工装 | ||
本实用新型公开了一种快切太阳能电池片探针排测试工装,旨在解决现在的太阳能测试探针安装复杂、可调范围小的不足。该实用新型包括若干水平设置的横杆,横杆上等间距设置有若干竖向设置的探针,横杆两端分别固定连接在定位支架上,定位支架套装在轴杆上,定位支架滑动连接轴杆,定位支架一端设有用于定位定位支架在轴杆位置的调节件,轴杆远离调节件一端设有连接盖,连接盖和定位支架之间设有弹性件,弹性件套装在轴杆上。具有一定的调节能力,但是调节并不繁琐,不容易磨损,使用寿命更长。
技术领域
本实用新型涉及太阳能电池片测试包装领域,更具体地说,它涉及一种快切太阳能电池片探针排测试工装。
背景技术
太阳能电池片通过丝网印刷工序后,流入测试包装工序,现有的测试探针排工装为上下探针排单独对应,产品切换时需先将上下所有的探针排松开,再利用电池片一一对应上下探针排,最后再将探针排锁紧,该过程较繁琐,同时因为频繁切换,各卡槽极易变形从而导致切换时间延长,并且影响测试精度和稳定性。现在具有两种探针排固定形式,第一种是采用固定卡槽来限制每个探针排的位置,再用压板锁紧所有探针排。第二种是采用活动式的卡槽来调整每个探针排的位置,再将卡槽用螺丝逐个锁紧。
中国专利公告号 CN207908556U,名称为一种叠瓦探针排,该申请案公开了一种叠瓦探针排,包括上探针杆、电池片本体和下探针杆,且所述上探针杆和下探针杆关于电池片本体上下对称设置,所述上探针杆和下探针杆相对一侧等间隔开设有拔插孔,且所述拔插孔内均安装有探针,所述上探针杆和下探针杆的左右两端分别固定连接有塑胶脂板,所述塑胶脂板上均开设有定位孔。本实用新型设计合理,方便移动,易于安装,通过拔插孔将探针插入上探针杆和下探针杆中,而上探针杆和下探针杆的左右两端分别固定连接有塑胶脂板,塑胶脂板上均开设有定位孔,通过定位孔和拧紧螺栓的设置能够将上探针杆和下探针杆与U形夹块相连接。该结构为不可调节式的探针压排,组装费力,可调范围小。
发明内容
本实用新型克服了现在的太阳能测试探针安装复杂、可调范围小的不足,提供了一种快切太阳能电池片探针排测试工装,它能在保留不可调节式的探针排的优点时,结合了可调节式的优点,具有一定的调节能力,安装简便,且相比可调节式的又具有切换时间快,各部件不易磨损,具有较好的测试精度和稳定性。
为了解决上述技术问题,本实用新型采用以下技术方案:
一种快切太阳能电池片探针排测试工装,包括若干水平设置的横杆,横杆上等间距设置有若干竖向设置的探针,横杆两端分别固定连接在定位支架上,定位支架套装在轴杆上,定位支架滑动连接轴杆,定位支架一端设有用于定位定位支架在轴杆位置的调节件,轴杆远离调节件一端设有连接盖,连接盖和定位支架之间设有弹性件,弹性件套装在轴杆上。
该工装与可调式的区别在于,横杆是固定连接在定位支架上的,两两横杆之间的距离是锁死的,并不能调整。但是,由于目前的太阳能电池每一片的大小已有了行业推荐的最佳大小,因此,这并不是问题。对于非标的太阳能电池片体完全可以采用多制备几副检测工装。该工装的可调指的是两平行设置的定位支架之间的相对位置关系是可以调节的。可以调节其长度方向的坐标以改变各个横杆与定位支架所夹角度。该工装包括固定在对应的电机滑块上的连接盖,二者通过紧固件连接。两两轴杆由于连接盖固定连接,因此二者是平行的;定位支架在轴杆上是可调位置的,通过调节件和弹性件进行定位。横杆是固定连接在定位支架上的。该装置兼顾了可调节性和固定的可靠性,兼顾易用,非常实用。
作为优选,连接盖上设有连接螺孔。连接盖是通过紧固件固定连接在电机伸缩端上的滑块上的,连接螺孔设置在连接盖的四边角位置,各个边角到轴杆的距离一致。
作为优选,弹性件为圆柱弹簧。圆柱弹簧成本低,保证定位支架处于绷紧状态,便于后续调节。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造