[实用新型]一种便于测量的粗糙度检测辅助工装有效
申请号: | 202020043130.4 | 申请日: | 2020-01-09 |
公开(公告)号: | CN211234373U | 公开(公告)日: | 2020-08-11 |
发明(设计)人: | 张代龙;穆帅帅;马有杰;贺贤汉 | 申请(专利权)人: | 富乐德科技发展(天津)有限公司 |
主分类号: | G01B21/30 | 分类号: | G01B21/30 |
代理公司: | 天津市新天方专利代理有限责任公司 12104 | 代理人: | 孔珍 |
地址: | 301712 天津*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 便于 测量 粗糙 检测 辅助 工装 | ||
本实用新型是一种便于测量的粗糙度检测辅助工装,包括底板,其特征在于,在底板的一侧垂直设有立板,立板的底部与底板的外侧壁固接,安装块一、安装块二和底板之间形成凹槽,安装块一和安装块二上对应设有弧形卡槽,弧形卡槽与凹槽相连通,在底板的另一侧设有定位块,定位块的上表面与安装块一、安装块二的顶面平齐,定位块上设有定位槽。本实用新型结构设计合理,通过设置带有弧形卡槽的安装块一和安装块二,带有定位槽的定位块,配合立板,只需一人便于将待检测部件竖直放置在粗糙度检测辅助工装上,操作方便,部件在测试时不会发生位移,有效减小了测量误差,提高了粗糙度检测的准确性。
技术领域
本实用新型涉及机械制造技术领域,尤其涉及一种便于测量的粗糙度检测辅助工装。
背景技术
半导体行业隶属电子信息产业,属于硬件产业,以半导体为基础而发展起来的一个产业。半导体是指一种导电性可受控制,范围可从绝缘体至导体之间的材料。无论从科技或是经济发展的角度来看,半导体的重要性都是非常巨大的。
半导体设备中有许多圆形的部件,如图2和图3所示,这些部件清洗后都需要采用表面粗糙度测量仪来检测粗糙度,但是在检测部件边缘位置的时候,需要一人扶住部件主体9的部件环形边缘10,一人测量部件主体9,操作很不方便,测量误差也大。为此,我们设计了一个测量辅助工装。
发明内容
本实用新型旨在解决现有技术的不足,而提供一种便于测量的粗糙度检测辅助工装。
本实用新型为实现上述目的,采用以下技术方案:
一种便于测量的粗糙度检测辅助工装,包括底板,其特征在于,在底板的一侧垂直设有立板,立板的底部与底板的外侧壁固接,底板上设有对应的安装块一和安装块二,安装块一和安装块二均固接在底板的上表面,安装块一的一端和安装块二的一端均与立板贴合,安装块一的另一端和安装块二的一端均与底板的外边缘平齐,安装块一、安装块二和底板之间形成凹槽,安装块一和安装块二上对应设有弧形卡槽,弧形卡槽与凹槽相连通,在底板的另一侧设有定位块,定位块的上表面与安装块一、安装块二的顶面平齐,定位块上设有定位槽。
所述凹槽为条形凹槽。
所述定位槽为圆形盲孔结构。
所述立板为聚氯乙烯板,所述安装块一和安装块二均为聚氯乙烯安装块。
本实用新型的有益效果是:本实用新型结构设计合理,通过设置带有弧形卡槽的安装块一和安装块二,带有定位槽的定位块,配合立板,只需一人便于将待检测部件竖直放置在粗糙度检测辅助工装上,操作方便,部件在测试时不会发生位移,有效减小了测量误差,提高了粗糙度检测的准确性。
附图说明
图1为本实用新型的立体图;
图2为待检测部件的主视图;
图3为图2的A-A的剖视图;
图中:1-底板;2-立板;3-安装块一;4-弧形卡槽;5-凹槽;6-安装块二;7-定位块;8-定位槽;9-部件主体;10-部件环形边缘;
以下将结合本实用新型的实施例参照附图进行详细叙述。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步说明:
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