[实用新型]径向力测试组件的环规

说明书

本实用新型公开了一种径向力测试组件的环规，包括环规组件本体，所述环规组件本体包括第一光面环规和第二光面环规，所述第二光面环规包括第一半环、第二半环和光面螺栓，所述第一半环含有第一连接沿，所述第二半环含有第二连接沿，所述第一连接沿和第二连接沿互相贴合后通过光面螺栓连接；所述第二光面环规的内表面上靠近端面处设有光面内螺纹，所述第一光面环规的外表面设有与光面内螺纹配合的光面外螺纹。本实用新型具有适用范围广的优点。

技术领域

本实用新型涉及测量技术领域，特别涉及一种径向力测试组件的环规。

背景技术

环规是一种用来测量工件尺寸的精密量具，可作为尺寸基准，也可作为比较测量用，还可直接用于校验。在径向力测试组件中，密封圈需要套在测量轴上进行径向力的测量，而测量轴的尺寸规格是否准确也会对径向力的测试产生影响，因此常常需要使用环规对测量轴的尺寸准确性进行检查。

目前，公开号为CN204881382U的中国专利公开了一种改进的光面环规，它包括保护层和与保护层同轴设置的测量层，该测量层热压在保护层的内壁，至少在该测量层的一端设置有环形槽，该环形槽内嵌有金属环，所述金属环的外端面上设置有倒角。

这种光面环规虽然能够进行尺寸校验，但是其只能针对一种规格的密封圈测量轴进行校验，适用性较差。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种径向力测试组件的环规，其具有适用范围广的优点。

本实用新型的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：

一种径向力测试组件的环规，包括环规组件本体，所述环规组件本体包括第一光面环规和第二光面环规，所述第二光面环规包括第一半环、第二半环和光面螺栓，所述第一半环含有第一连接沿，所述第二半环含有第二连接沿，所述第一连接沿和第二连接沿互相贴合后通过光面螺栓连接；所述第二光面环规的内表面上靠近端面处设有光面内螺纹，所述第一光面环规的外表面设有与光面内螺纹配合的光面外螺纹。

通过采用上述技术方案，环规组件本体由第一光面环规和第二光面环规组成，第一环规组件和第二环规组件的规格不同，使得本实用新型可以对不同规格的密封圈测量轴进行检测，从而提高了环规组件的适用范围，且可拆卸式的组合也能让携带更为方便。其中第二光面环规由第一半环和第二半环组成，当第二光面环规在使用过程中由于受到撞击或其他情况而损坏时，不用将整个第二光面环规报废，只要更换其中一个有损坏的半环，即可解决第二光面环规损坏的问题，简单实用。

本实用新型进一步设置为：所述第二光面环规上远离第一光面环规的一端的端面与其内表面的交界处设有第二光面倒角。

通过采用上述技术方案，在第二光面环规上远离第一光面环规的一端的端面与内表面的交界处设置第二光面倒角，在使用第二光面环规检测时，能方便密封圈测量轴与第二光面环规的对齐，使得密封圈测量轴插入第二光面环规的过程更为流畅和顺利。

本实用新型进一步设置为：所述第一光面环规上远离第二光面环规的一端的端面与其内表面的交界处设有第一光面倒角。

通过采用上述技术方案，在第一光面环规上远离第二光面环规的一端的端面与内表面的交界处设置第一光面倒角，在使用第一光面环规检测时，能方便密封圈测量轴与第一光面环规的对齐，使得密封圈测量轴插入第一光面环规的过程更为流畅和顺利。

本实用新型进一步设置为：所述第一连接沿的上表面设有定位插杆，所述第二连接沿的下表面设有定位插孔。

通过采用上述技术方案，当定位插杆插入到定位插孔中时，第一连接沿与第二连接沿之间定位准确并紧贴，从而方便光面螺栓的旋入。

本实用新型进一步设置为：所述第二光面环规的外表面设有防滑纹。

通过采用上述技术方案，能使手持握第二光面环规时增大摩擦力，防止打滑而影响效率。